[实用新型]一种半导体真空设备用测试仪

摘要

本实用新型公开了一种半导体真空设备用测试仪，包括仪体，所述仪体的内部设置有芯片存储端，所述仪体的上端外表面设置有USB插口与开关，且USB插口位于开关的后端，所述仪体的一侧外表面设置有防护固定结构，所述仪体的外壁设置有箱体，所述箱体的后端外表面设置有连接轴，所述连接轴的外壁设置有箱盖，所述芯片存储端包括芯片板、主控芯片、传输端、接口电路与储存中心，所述主控芯片位于芯片板的内部，所述传输端位于主控芯片的下端，所述储存中心位于传输端的下端。本实用新型所述的一种半导体真空设备用测试仪，可以连续的进行测试，对数据一次下载，并且测试仪的拆卸便捷，让维护变得简单，带来更好的使用前景。