[实用新型]芯片老化试验箱有效
| 申请号： | 202022598917.X | 申请日： | 2020-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN214473477U | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 杨文祥 | 申请（专利权）人： | 苏州诺威特测控科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 苏州科仁专利代理事务所(特殊普通合伙) 32301 | 代理人： | 郭杨 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种芯片老化试验箱，包括具有高温试验腔的箱体、转动设置于所述箱体上的箱门，还包括设置在所述高温试验腔正上方用于制热的高温制热腔、设置于所述高温制热腔顶壁上的散热系统，所述散热系统包括固定于所述顶壁上的抽风口、安装于所述抽风口处的风门执行器。本实用新型提供了一种芯片老化试验箱，其通过风门执行器风阀的开闭，由鼓风机将高温制热腔内产生的热量从抽热风管道内抽出至室外，能快速散热、降低箱内的温度,方便拿取试验产品，操作简便安全，大大加快工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 老化试验 | ||
【主权项】：
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