[实用新型]一种芯片模组测试板及芯片模组测试系统有效
| 申请号： | 202021922309.3 | 申请日： | 2020-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN213041956U | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 王伟;万晓鹏;郝力强 | 申请（专利权）人： | 苏州清越光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 梁岩 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种芯片模组测试板及芯片模组测试系统，芯片模组测试板包括测试主板及设置于测试主板上的若干沿着第一方向排布的测试板电极组，各测试板电极组包括若干测试板电极，测试板电极在平行于测试主板的平面上具有沿着第一方向的第一特征尺寸和沿着第二方向的第二特征尺寸，第一方向和第二方向垂直，第一特征尺寸与第二特征尺寸的比值为0.5－2。由于第一特征尺寸与第二特征尺寸的比值为0.5－2，使测试板电极的对位偏移具有一定的容量，即使测试板电极和芯片电极在对位时出现歪斜，也可以在一定程度上避免芯片电极同时与相邻两测试板电极搭接，从而避免芯片测试过程中芯片电极短路，避免对芯片模组造成损伤。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 模组 测试 系统 | ||
【主权项】：
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