[实用新型]一种半导体晶闸管性能测试装置有效
| 申请号： | 202021804703.7 | 申请日： | 2020-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN213091804U | 公开（公告）日： | 2021-04-30 |
| 发明（设计）人： | 杨狄 | 申请（专利权）人： | 苏州匠心信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京高航知识产权代理有限公司 11530 | 代理人： | 乔浩刚 |
| 地址： | 215300 江苏省苏州市昆山*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体晶闸管性能测试装置，包括底座，所述底座上固定设置有背板，所述底座上设有晶闸管，且所述底座上设有与晶闸管对应的固定装置，所述背板远离晶闸管的一侧侧壁上滑动设置有两块活动板，两块所述活动板均通过滑块滑动设置在背板上，所述背板上还设有与活动板对应的传动机构，所述背板上还设有与晶闸管对应的测试机构。本实用新型能够快速的对晶闸管进行性能检测，替代了人工检测的操作，大大提高了检测效率，且在检测的过程中有效的保护了晶闸管的引脚，避免了晶闸管引脚受到压力出现弯折损坏的问题，大大提高了晶闸管的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 晶闸管 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
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