[实用新型]一种半导体晶闸管性能测试装置

说明书

本实用新型公开了一种半导体晶闸管性能测试装置，包括底座，所述底座上固定设置有背板，所述底座上设有晶闸管，且所述底座上设有与晶闸管对应的固定装置，所述背板远离晶闸管的一侧侧壁上滑动设置有两块活动板，两块所述活动板均通过滑块滑动设置在背板上，所述背板上还设有与活动板对应的传动机构，所述背板上还设有与晶闸管对应的测试机构。本实用新型能够快速的对晶闸管进行性能检测，替代了人工检测的操作，大大提高了检测效率，且在检测的过程中有效的保护了晶闸管的引脚，避免了晶闸管引脚受到压力出现弯折损坏的问题，大大提高了晶闸管的使用寿命。

技术领域

本实用新型涉及半导体开发技术领域，尤其涉及一种半导体晶闸管性能测试装置。

背景技术

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料；如二极管就是采用半导体制作的器件，其中晶闸管是其中一种半导体，在生产生活中运用较为广泛；而在晶闸管验收的过程中，常常需要对晶闸管进行一定的检测，验收产品的质量。

但是，在现有技术中，在对晶闸管进行性能检测常常是通过人工多次使用万用表多次触碰晶闸管的引脚来判断管子的触发灵敏度，从而判断晶闸管的性能，这种方式的检测效率较低，耗费大量人力资源，且在检测的过程中直接对晶闸管的引脚进行检测，常常导致引脚受力出现弯折损坏的问题，大大降低了晶闸管的使用寿命。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，如：传统晶闸管的检测常常通过人工进行依次检测，效率较低，耗费人力，且在检测时常常由于直接对晶闸管的引脚施加外力，常常导致晶闸管引脚弯折损坏，大大降低了晶闸管的使用寿命，提出的一种半导体晶闸管性能测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种半导体晶闸管性能测试装置，包括底座，所述底座上固定设置有背板，所述底座上设有晶闸管，且所述底座上设有与晶闸管对应的固定装置，所述背板远离晶闸管的一侧侧壁上滑动设置有两块活动板，两块所述活动板均通过滑块滑动设置在背板上，所述背板上还设有与活动板对应的传动机构，所述背板上还设有与晶闸管对应的测试机构。

优选地，所述固定装置包括压板，所述压板的两端对称转动设置有两个锁紧螺母，两个所述锁紧螺母均贯穿压板设置，所述底座上开设有与锁紧螺母对应的螺纹孔，所述压板上设有与晶闸管对应的保护机构。

优选地，所述保护机构包括两根导体棒，所述压板的下壁上对称固定设置有两块固定板，两根所述导体棒分别转动贯穿两块固定板设置，且两根所述导体棒的侧壁上均设置有螺纹，所述固定板上设有与导体棒对应的螺纹口，且两根所述导体棒均与晶闸管的引脚对应设置。

优选地，所述传动机构包括电机，所述电机固定设置在背板靠近活动板的一侧侧壁上，且所述电机的输出端上均固定设置有主动齿轮，所述背板上还对称转动设置有两根转杆，两根所述转杆上均固定设置有传动齿轮，两个所述传动齿轮均与主动齿轮啮合设置，两根所述转杆靠近活动板的一端均固定设置有转轮，两块所述活动板上均设有与转轮对应的传动槽，所述转轮的侧壁上周向设置有半圈卡齿，所述传动槽的两侧侧壁上对称开设有与卡齿对应的若干卡齿槽。

优选地，所述测试机构包括两块测试板，两块所述测试板均滑动设置在背板靠近晶闸管的一侧侧壁上，且两块所述测试板靠近背板的一端均固定设置有滑杆，两根所述滑杆均贯穿背板设置，所述背板上对称开设有与滑杆对应的两个条形滑口，两根所述滑杆远离测试板的一端均与活动板固定连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过压板与锁紧螺母的配合，实现了对晶闸管的固定，通过设置导体棒，使得导体棒紧贴晶闸管的引脚，从而避免晶闸管引脚直接受力出现弯折损坏的问题，大大提高了晶闸管的使用寿命，通过主动齿轮与传动齿轮的配合，实现了电机转动带动转杆转动，从而带动转轮在传动槽内转动，进而使得活动板进行往复运动，从而带动测试板进行往复运动，进而实现对引脚的多次碰触完成对晶闸管触发灵敏度的检测，替代了人工检测的操作，大大提高了检测效率，节约了劳动力。

附图说明