[实用新型]一种半导体晶闸管性能测试装置

权利要求书

1.一种半导体晶闸管性能测试装置，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)上固定设置有背板(2)，所述底座(1)上设有晶闸管(12)，且所述底座(1)上设有与晶闸管(12)对应的固定装置，所述背板(2)远离晶闸管(12)的一侧侧壁上滑动设置有两块活动板(3)，两块所述活动板(3)均通过滑块(4)滑动设置在背板(2)上，所述背板(2)上还设有与活动板(3)对应的传动机构，所述背板(2)上还设有与晶闸管(12)对应的测试机构。

2.根据权利要求1所述的一种半导体晶闸管性能测试装置，其特征在于，所述固定装置包括压板(10)，所述压板(10)的两端对称转动设置有两个锁紧螺母(11)，两个所述锁紧螺母(11)均贯穿压板(10)设置，所述底座(1)上开设有与锁紧螺母(11)对应的螺纹孔，所述压板(10)上设有与晶闸管(12)对应的保护机构。

3.根据权利要求2所述的一种半导体晶闸管性能测试装置，其特征在于，所述保护机构包括两根导体棒(15)，所述压板(10)的下壁上对称固定设置有两块固定板(14)，两根所述导体棒(15)分别转动贯穿两块固定板(14)设置，且两根所述导体棒(15)的侧壁上均设置有螺纹，所述固定板(14)上设有与导体棒(15)对应的螺纹口，且两根所述导体棒(15)均与晶闸管(12)的引脚对应设置。

4.根据权利要求1所述的一种半导体晶闸管性能测试装置，其特征在于，所述传动机构包括电机(9)，所述电机(9)固定设置在背板(2)靠近活动板(3)的一侧侧壁上，且所述电机(9)的输出端上均固定设置有主动齿轮(8)，所述背板(2)上还对称转动设置有两根转杆(6)，两根所述转杆(6)上均固定设置有传动齿轮(7)，两个所述传动齿轮(7)均与主动齿轮(8)啮合设置，两根所述转杆(6)靠近活动板(3)的一端均固定设置有转轮(16)，两块所述活动板(3)上均设有与转轮(16)对应的传动槽(17)，所述转轮(16)的侧壁上周向设置有半圈卡齿，所述传动槽(17)的两侧侧壁上对称开设有与卡齿对应的若干卡齿槽。

5.根据权利要求1所述的一种半导体晶闸管性能测试装置，其特征在于，所述测试机构包括两块测试板(13)，两块所述测试板(13)均滑动设置在背板(2)靠近晶闸管(12)的一侧侧壁上，且两块所述测试板(13)靠近背板(2)的一端均固定设置有滑杆(5)，两根所述滑杆(5)均贯穿背板(2)设置，所述背板(2)上对称开设有与滑杆(5)对应的两个条形滑口，两根所述滑杆(5)远离测试板(13)的一端均与活动板(3)固定连接。