[实用新型]一种半导体检测用可水平调节的椭偏仪有效

专利信息
申请号: 202021643109.4 申请日: 2020-08-10
公开(公告)号: CN213120437U 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 陈光宇 申请(专利权)人: 南京国科半导体有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06;G01N21/21;G01N21/01
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 211806 江苏省南京市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种半导体检测用可水平调节的椭偏仪,包括底板,所述底板顶部的前侧固定连接有连接座,所述连接座的顶部固定连接有支撑座,所述支撑座的顶部固定连接有承载台,所述底板顶部的两侧分别固定连接有左侧板和右侧板。本实用新型通过伺服电机带动转轴转动,通过转轴带动丝杆转动,丝杆的转动使丝杆母移动,通过丝杆母的移动带动连接板移动,连接板带动导向套在滑柱表面进行滑动,通过导向套的移动带动椭偏仪本体进行移动,达到了可水平调节的优点,解决了现有的椭偏仪在使用时不具备水平调节的功能,往往椭偏仪的位置都是固定的,以至于无法满足不同水平距离的测量,因此不便于人们使用的问题。
搜索关键词: 一种 半导体 检测 水平 调节 椭偏仪
【主权项】:
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