[实用新型]一种半导体检测用可水平调节的椭偏仪有效

专利信息
申请号: 202021643109.4 申请日: 2020-08-10
公开(公告)号: CN213120437U 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 陈光宇 申请(专利权)人: 南京国科半导体有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06;G01N21/21;G01N21/01
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 211806 江苏省南京市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 检测 水平 调节 椭偏仪
【说明书】:

实用新型公开了一种半导体检测用可水平调节的椭偏仪,包括底板,所述底板顶部的前侧固定连接有连接座,所述连接座的顶部固定连接有支撑座,所述支撑座的顶部固定连接有承载台,所述底板顶部的两侧分别固定连接有左侧板和右侧板。本实用新型通过伺服电机带动转轴转动,通过转轴带动丝杆转动,丝杆的转动使丝杆母移动,通过丝杆母的移动带动连接板移动,连接板带动导向套在滑柱表面进行滑动,通过导向套的移动带动椭偏仪本体进行移动,达到了可水平调节的优点,解决了现有的椭偏仪在使用时不具备水平调节的功能,往往椭偏仪的位置都是固定的,以至于无法满足不同水平距离的测量,因此不便于人们使用的问题。

技术领域

本实用新型涉及椭偏仪技术领域,具体为一种半导体检测用可水平调节的椭偏仪。

背景技术

椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器,由于测量精度高,适用于超薄膜,与样品非接触,对样品没有破坏且不需要真空,使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量仪器,而现有的椭偏仪在使用时不具备水平调节的功能,往往椭偏仪的位置都是固定的,以至于无法满足不同水平距离的测量,因此不便于人们使用。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种半导体检测用可水平调节的椭偏仪,具备可水平调节的优点,解决了现有的椭偏仪在使用时不具备水平调节的功能,往往椭偏仪的位置都是固定的,以至于无法满足不同水平距离的测量,因此不便于人们使用的问题。

(二)技术方案

为实现上述水平调节的目的,本实用新型提供如下技术方案:一种半导体检测用可水平调节的椭偏仪,包括底板,所述底板顶部的前侧固定连接有连接座,所述连接座的顶部固定连接有支撑座,所述支撑座的顶部固定连接有承载台,所述底板顶部的两侧分别固定连接有左侧板和右侧板,所述右侧板右侧的背侧固定连接有伺服电机,所述伺服电机的输出端固定连接有转轴,所述转轴的左侧固定连接有丝杆,所述丝杆的左侧贯穿至右侧板的左侧,所述丝杆的表面螺纹连接有丝杆母,所述丝杆母的前侧安装有导向套,所述导向套的顶部固定连接有椭偏仪本体,所述导向套的内腔活动连接有滑柱。

优选的,所述滑柱的两端分别与左侧板的右侧和右侧板的左侧固定连接,所述导向套的内腔开设有导向孔,所述导向孔的内壁与导向套的内腔活动连接。

优选的,所述导向套的底部固定连接有滑板,所述底板的顶部开设有导向槽,所述滑板的底部贯穿至导向槽的内腔并与导向槽的内壁呈滑动连接。

优选的,所述丝杆母的前侧固定连接有连接板,所述连接板的前侧与导向套的背侧固定连接。

优选的,所述左侧板右侧的顶部嵌入有轴承座,所述丝杆的左侧贯穿至轴承座的内腔并与轴承座活动连接。

(三)有益效果

与现有技术相比,本实用新型提供了一种半导体检测用可水平调节的椭偏仪,具备以下有益效果:

1、本实用新型通过伺服电机带动转轴转动,通过转轴带动丝杆转动,丝杆的转动使丝杆母移动,通过丝杆母的移动带动连接板移动,连接板带动导向套在滑柱表面进行滑动,通过导向套的移动带动椭偏仪本体进行移动,达到了可水平调节的优点,解决了现有的椭偏仪在使用时不具备水平调节的功能,往往椭偏仪的位置都是固定的,以至于无法满足不同水平距离的测量,因此不便于人们使用的问题。

2、本实用新型通过轴承座,使丝杆在左侧板内转动更加顺畅,减少了丝杆与左侧板之间的摩擦力,从而延长了丝杆的使用寿命。

3、本实用新型通过导向槽,对滑板移动位置起到导向的效果,进一步的对导向套移动过程中起到支撑的效果。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图;

图2为本实用新型底板结构的俯视图;

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