[实用新型]应用于芯片老化测试设备的芯片拾取机构

摘要

本实用新型揭示了应用于芯片老化测试设备的芯片拾取机构，设置在芯片老化测试设备的运转载架上，芯片拾取机构包括用于搭载在运转载架上的固定板座，固定板座上设有升降滑块、及用于驱动升降滑块升降位移的驱动源，升降滑块上设有用于装载负压吸附杆的穿接通道，负压吸附杆在穿接通道内设有升降浮动位移。本实用新型满足负压吸附杆初始化高度调节及浮动拾取行程需求，调节操作方便高效，降低了人力调节成本。导杆与升降滑块形成小型气缸结构，降低了驱动源成本，同时使得重量减轻降低了运行惯性偏差，满足拾取料精确对位需求。易于实现批量化位置度调节，满足不同落差等特殊调节的灵活性。