[实用新型]一种光纤环温度性能测试装置有效
申请号: | 202021302918.9 | 申请日: | 2020-07-06 |
公开(公告)号: | CN213022234U | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
发明(设计)人: | 代静;李健一;可伟 | 申请(专利权)人: | 河北汉光重工有限责任公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01C25/00 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 056002 河北*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本实用新型提供一种光纤环温度性能测试装置,主要由上壳、下壳、铜柱、支架、气密插座、O型密封圈、温度传感器及尼龙管组成,其中,下壳四周侧壁上分布有进气孔、出气孔、气密插座安装孔及光纤出纤孔,另外下壳法兰上端有一环形凹槽,所述O型密封圈胶粘于所述环形凹槽内;支架通过螺钉和铜柱固定在下壳底面上;支架上表面有一凹槽,尼龙管胶粘于所述凹槽内;支架上圆周均匀分布着温度传感器,待测光纤环固定在支架上表面;上壳与下壳通过螺钉固定形成气密壳体。本实用新型采用一气密结构装置,充入氮气,物理隔离光纤环与外界环境,以减小温度场外界环境水分、氧气等因素对光纤环温度敏感性的影响,单独考虑温度场变化对光纤环性能的影响。 | ||
搜索关键词: | 一种 光纤 温度 性能 测试 装置 | ||
【主权项】:
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