[实用新型]一种光纤环温度性能测试装置

说明书

本实用新型提供一种光纤环温度性能测试装置，主要由上壳、下壳、铜柱、支架、气密插座、O型密封圈、温度传感器及尼龙管组成，其中，下壳四周侧壁上分布有进气孔、出气孔、气密插座安装孔及光纤出纤孔，另外下壳法兰上端有一环形凹槽，所述O型密封圈胶粘于所述环形凹槽内；支架通过螺钉和铜柱固定在下壳底面上；支架上表面有一凹槽，尼龙管胶粘于所述凹槽内；支架上圆周均匀分布着温度传感器，待测光纤环固定在支架上表面；上壳与下壳通过螺钉固定形成气密壳体。本实用新型采用一气密结构装置，充入氮气，物理隔离光纤环与外界环境，以减小温度场外界环境水分、氧气等因素对光纤环温度敏感性的影响，单独考虑温度场变化对光纤环性能的影响。

技术领域

本实用新型属于光纤传感和导航技术领域，具体涉及一种光纤环温度性能测试装置。

背景技术

光纤陀螺通过检测由Sagnac效应引起的双光束干涉信号的相位差获得角速度信息，与传统机电陀螺相比具有动态范围大、抗干扰能力强、寿命长、体积小、成本低等特点，在国防建设和国家经济等领域起重要作用。光纤陀螺敏感器件光纤环受温度、地磁干扰影响较大，产生的非互易相移将引起大的偏置误差从而影响陀螺精度，因此，开展温度场对光纤环在光纤陀螺的作用机理的研究工作，一直是光纤陀螺尤其高精度光纤陀螺技术发展的一个重要环节。

实用新型内容

有鉴于此，为进一步研究温度这一环境因素对光纤环工作性能的影响机理，提高高精度光纤陀螺的稳定性，本实用新型提供一种光纤环温度性能测试装置。

本实用新型解决其技术问题所采取的技术方案是：

一种光纤环温度性能测试装置，主要由上壳、下壳、铜柱、支架、气密插座、O型密封圈、温度传感器及尼龙管组成，其中，下壳四周侧壁上分布有进气孔、出气孔、气密插座安装孔及光纤出纤孔，另外下壳法兰上端有一环形凹槽，所述O型密封圈胶粘于所述环形凹槽内；支架通过螺钉和铜柱固定在下壳底面上；支架上表面有一凹槽，尼龙管胶粘于所述凹槽内；支架上圆周均匀分布着温度传感器，待测光纤环固定在支架上表面；上壳与下壳通过螺钉固定形成气密壳体；

温度传感器引脚引线通过下壳侧壁的气密插座与外部控制电路板相连；

下壳上的光线出纤孔与尼龙管在水平和高度上正对；尼龙管与下壳上的光线出纤孔的间隙用硅橡胶填充；光纤环的尾纤穿过尼龙管末端时，光纤环尾纤与尼龙管末端的间隙填充紫外胶；光纤环温度性能测量时，气密壳体内充入氮气。

进一步，本实用新型所述支架采用聚四氟乙烯材质。

有益效果

本实用新型采用一气密结构装置，充入氮气，物理隔离光纤环与外界环境，以减小温度场外界环境水分、氧气等因素对光纤环温度敏感性的影响，单独考虑温度场变化对光纤环性能的影响。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明；

图1为本实用新型光纤环温度性能测试装置外观图；

图2为本实用新型光纤环温度性能测试装置剖面视图；

图3为本实用新型光纤环温度性能测试装置去掉上壳后的俯视图。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。