[实用新型]一种光纤环温度性能测试装置

权利要求书

1.一种光纤环温度性能测试装置，其特征在于，主要由上壳、下壳、铜柱、支架、气密插座、O型密封圈、温度传感器及尼龙管组成，其中，下壳四周侧壁上分布有进气孔、出气孔、气密插座安装孔及光纤出纤孔，另外下壳法兰上端有一环形凹槽，所述O型密封圈胶粘于所述环形凹槽内；支架通过螺钉和铜柱固定在下壳底面上；支架上表面有一凹槽，尼龙管胶粘于所述凹槽内；支架上圆周均匀分布着温度传感器，待测光纤环固定在支架上表面；上壳与下壳通过螺钉固定形成气密壳体；

温度传感器引脚引线通过下壳侧壁的气密插座与外部控制电路板相连；

下壳上的光线出纤孔与尼龙管在水平和高度上正对；尼龙管与下壳上的光线出纤孔的间隙用硅橡胶填充；光纤环的尾纤穿过尼龙管末端时，光纤环尾纤与尼龙管末端的间隙填充紫外胶；光纤环温度性能测量时，气密壳体内充入氮气。

2.根据权利要求1所述光纤环温度性能测试装置，其特征在于，所述支架采用聚四氟乙烯材质。