[实用新型]一种来返检测的芯片测试架

摘要

本实用新型公开了一种来返检测的芯片测试架，包括壳体,所述壳体顶部设有放置座，所述壳体顶部的中部设有充电开关，所述壳体顶部的底部设有功能按键和音量键，所述壳体顶部的一端设有开关，所述壳体顶部一端设有显示表，所述壳体一侧的中部设有电源接口。来料检测；采购回来的IC在使用前有时会进行品质检验，挑出不良品，从而提高SMT的良品率。IC的品质光凭肉眼是看不出来的，必须通过加电检测，用常用的方法检测IC的电流、电压、电感、电阻、电容也不能完全判断IC的好坏；通过IC测试夹具应用功能跑程序，可以判断IC的好坏。返修检测；有时生产过程中主板出了问题，把拆下的IC放到测试座内通过测试就能排除是否IC方面的原因。