[实用新型]一种带限位结构的芯片测试装置有效
| 申请号： | 202020618278.6 | 申请日： | 2020-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN212160009U | 公开（公告）日： | 2020-12-15 |
| 发明（设计）人： | 吴国强;周鑫鑫;赵丽;贾淑芳 | 申请（专利权）人： | 氩芯科技（杭州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州市杭州经济技术开*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种带限位结构的芯片测试装置，包括测试设备，所述测试设备的表面固定连接有定位板，所述定位板的内壁固定连接有拉杆机构，所述拉杆机构的数量为两个，所述拉杆机构的顶部贯穿至定位板的顶部。通过设置测试设备、拉杆机构、活动块、手柄、拉簧、复位机构、滑套、滑杆、弹簧、定位板、限位杆、防护垫、卡块、活动孔、连接块、滑块、滑槽、活动槽、凹槽和限位孔的配合使用，解决了现有的测试装置在限位芯片时，一般都是使用模具进行限位，当使用者需要检测不同的芯片时，需要更换模具，使用者需要耗费大量的时间进行更换，极大的减少了便捷性，特别不方便使用者使用的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 限位 结构 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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