[实用新型]一种带限位结构的芯片测试装置

说明书

本实用新型公开了一种带限位结构的芯片测试装置，包括测试设备，所述测试设备的表面固定连接有定位板，所述定位板的内壁固定连接有拉杆机构，所述拉杆机构的数量为两个，所述拉杆机构的顶部贯穿至定位板的顶部。通过设置测试设备、拉杆机构、活动块、手柄、拉簧、复位机构、滑套、滑杆、弹簧、定位板、限位杆、防护垫、卡块、活动孔、连接块、滑块、滑槽、活动槽、凹槽和限位孔的配合使用，解决了现有的测试装置在限位芯片时，一般都是使用模具进行限位，当使用者需要检测不同的芯片时，需要更换模具，使用者需要耗费大量的时间进行更换，极大的减少了便捷性，特别不方便使用者使用的问题。

技术领域

本实用新型属于芯片技术领域，尤其涉及一种带限位结构的芯片测试装置。

背景技术

芯片，半导体元件产品的统称，称微电路、微芯片、晶片、芯片在电子学中是一种把电路小型化的方式，主要包括半导体设备，也包括被动组件等，并时常制造在半导体晶圆表面上。

现在的生活中，科技越来越发达，芯片也是用途广泛，芯片在生产时需要对其进行检测，检测芯片的质量，在检测时需要使用到测试设备，综上所述，现有的测试装置在限位芯片时，一般都是使用模具进行限位，当使用者需要检测不同的芯片时，需要更换模具，使用者需要耗费大量的时间进行更换，极大的减少了便捷性，特别不方便使用者的使用。

实用新型内容

针对现有技术存在的问题，本实用新型提供了一种带限位结构的芯片测试装置，具备快速对芯片进行限位的优点，解决了现有的测试装置在限位芯片时，一般都是使用模具进行限位，当使用者需要检测不同的芯片时，需要更换模具，使用者需要耗费大量的时间进行更换，极大的减少了便捷性，特别不方便使用者使用的问题。

本实用新型是这样实现的，一种带限位结构的芯片测试装置，包括测试设备，所述测试设备的表面固定连接有定位板，所述定位板的内壁固定连接有拉杆机构，所述拉杆机构的数量为两个，所述拉杆机构的顶部贯穿至定位板的顶部，两个拉杆机构相对的一侧均固定连接有连接块，两个连接块相对的一侧均贯穿至定位板的外侧并固定连接有限位杆，所述定位板顶部的两侧均开设有凹槽，所述凹槽的内壁固定连接有复位机构，所述复位机构的顶部固定连接有卡块。

作为本实用新型优选的，所述拉杆机构包括活动块，两个活动块相对的一侧均固定连接有拉簧，两个拉簧相对的一侧均与定位板的内壁固定连接，所述活动块的顶部固定连接有手柄，所述手柄的顶部贯穿至定位板的顶部，两个活动块相对的一侧均与连接块固定连接。

作为本实用新型优选的，所述复位机构包括滑杆，所述滑杆的两侧均与凹槽的内壁固定连接，所述滑杆的表面套设有滑套，所述滑套的右侧固定连接有弹簧，所述弹簧的右侧与定位板的内壁固定连接，所述弹簧套设于滑杆的表面，所述滑套的顶部与卡块固定连接。

作为本实用新型优选的，两个活动块相对的一侧均固定连接有滑块，所述定位板的内壁开设有与滑块配合使用的滑槽。

作为本实用新型优选的，所述定位板的顶部开设有与手柄配合使用的活动孔，所述定位板的内壁开设有与连接块配合使用的活动槽。

作为本实用新型优选的，两个限位杆相对的一侧均固定连接有防护垫，两个卡块相对的一侧均开设有与手柄配合使用的限位孔。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：