[实用新型]一种带限位结构的芯片测试装置有效
| 申请号： | 202020618278.6 | 申请日： | 2020-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN212160009U | 公开（公告）日： | 2020-12-15 |
| 发明（设计）人： | 吴国强;周鑫鑫;赵丽;贾淑芳 | 申请（专利权）人： | 氩芯科技（杭州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州市杭州经济技术开*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 限位 结构 芯片 测试 装置 | ||
1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括测试设备(1)，其特征在于：所述测试设备(1)的表面固定连接有定位板(4)，所述定位板(4)的内壁固定连接有拉杆机构(2)，所述拉杆机构(2)的数量为两个，所述拉杆机构(2)的顶部贯穿至定位板(4)的顶部，两个拉杆机构(2)相对的一侧均固定连接有连接块(9)，两个连接块(9)相对的一侧均贯穿至定位板(4)的外侧并固定连接有限位杆(5)，所述定位板(4)顶部的两侧均开设有凹槽(13)，所述凹槽(13)的内壁固定连接有复位机构(3)，所述复位机构(3)的顶部固定连接有卡块(7)。
2.如权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述拉杆机构(2)包括活动块(201)，两个活动块(201)相对的一侧均固定连接有拉簧(203)，两个拉簧(203)相对的一侧均与定位板(4)的内壁固定连接，所述活动块(201)的顶部固定连接有手柄(202)，所述手柄(202)的顶部贯穿至定位板(4)的顶部，两个活动块(201)相对的一侧均与连接块(9)固定连接。
3.如权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述复位机构(3)包括滑杆(302)，所述滑杆(302)的两侧均与凹槽(13)的内壁固定连接，所述滑杆(302)的表面套设有滑套(301)，所述滑套(301)的右侧固定连接有弹簧(303)，所述弹簧(303)的右侧与定位板(4)的内壁固定连接，所述弹簧(303)套设于滑杆(302)的表面，所述滑套(301)的顶部与卡块(7)固定连接。
4.如权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：两个活动块(201)相对的一侧均固定连接有滑块(10)，所述定位板(4)的内壁开设有与滑块(10)配合使用的滑槽(11)。
5.如权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述定位板(4)的顶部开设有与手柄(202)配合使用的活动孔(8)，所述定位板(4)的内壁开设有与连接块(9)配合使用的活动槽(12)。
6.如权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：两个限位杆(5)相对的一侧均固定连接有防护垫(6)，两个卡块(7)相对的一侧均开设有与手柄(202)配合使用的限位孔(14)。
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