[实用新型]一种准单晶硅片微缺陷的检测装置有效

专利信息
申请号: 202020347633.0 申请日: 2020-03-19
公开(公告)号: CN212228539U 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 王丽华 申请(专利权)人: 连云港市质量技术综合检验检测中心
主分类号: G01N1/32 分类号: G01N1/32;G01N1/34
代理公司: 连云港联创专利代理事务所(特殊普通合伙) 32330 代理人: 谷金颖
地址: 222000 江苏省连云*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种准单晶硅片微缺陷的检测装置,包括底座,底座的上端设有固定台,固定台的下端四拐角处均固定连接有支柱,支柱的下端均固定连接在底座上,固定台的中部开设有凹槽,凹槽的开口处位于固定台的上端,凹槽内部下端的两侧均开设有通槽,固定台的上端两侧均固定连接有支撑板,支撑板靠近固定台中部的一侧均开设有升降槽,升降槽的内部下端均固定连接有定位杆,本实用新型所达到的有益效果是:本实用是一个单晶硅片检测时所用的抛光装置,且本实用新型的固定台两侧均设置了带有喷头的水管,且水管上均连接有一个储存去离子水的储水盒,使得本实用新型在抛光的同时可以对单晶硅片进行清洗,无需分开来操作,工作效率较高。
搜索关键词: 一种 单晶硅 缺陷 检测 装置
【主权项】:
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