[实用新型]一种硅片用测试平台有效
| 申请号： | 202020200449.3 | 申请日： | 2020-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN211741371U | 公开（公告）日： | 2020-10-23 |
| 发明（设计）人： | 王林;章斌;沈顺华;纪步成;何龙海 | 申请（专利权）人： | 衢州晶哲电子材料有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R27/02 |
| 代理公司： | 衢州维创维邦专利代理事务所(普通合伙) 33282 | 代理人： | 高永志 |
| 地址： | 324022 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种硅片用测试平台，包括底座和底板，所述底座的上方连接有横板，且横板的左端内部贯穿连接有第一控制杆，且横板的右端内部贯穿连接有第二控制杆，所述第一控制杆和第二控制杆的外侧均连接有皮带，所述底板位于横板的上方，且底板的左端内部开设有限位槽，所述底板的上方安装有盛放板，所述盛放板的上表面焊接连接有固定座，所述竖杆与控制件相连接，且控制件的下端连接有固定板，所述横板在底座上为滑动结构，且横板在底座上为伸缩结构，并且横板的宽度和长度尺寸分别与底座的内侧宽度和长度尺寸相等。该硅片用测试平台，硅片定位简单，且便于调节平台与测试头之间的间距尺寸，并且便于保证硅片位置的稳定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 硅片 测试 平台 | ||
【主权项】：
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