[实用新型]一种硅片用测试平台

权利要求书

1.一种硅片用测试平台，包括底座(1)和底板(6)，其特征在于：所述底座(1)的上方连接有横板(2)，且横板(2)的左端内部贯穿连接有第一控制杆(3)，且横板(2)的右端内部贯穿连接有第二控制杆(4)，所述第一控制杆(3)和第二控制杆(4)的外侧均连接有皮带(5)，所述底板(6)位于横板(2)的上方，且底板(6)的左端内部开设有限位槽(7)，所述底板(6)的上方安装有盛放板(8)，且盛放板(8)的上表面开设有放置槽(9)，所述盛放板(8)的上表面焊接连接有固定座(10)，且固定座(10)的内部贯穿连接有竖杆(11)，所述竖杆(11)与控制件(12)相连接，且控制件(12)的下端连接有固定板(13)。

2.根据权利要求1所述的一种硅片用测试平台，其特征在于：所述横板(2)在底座(1)上为滑动结构，且横板(2)在底座(1)上为伸缩结构，并且横板(2)的宽度和长度尺寸分别与底座(1)的内侧宽度和长度尺寸相等。

3.根据权利要求1所述的一种硅片用测试平台，其特征在于：所述第一控制杆(3)和第二控制杆(4)关于横板(2)的竖直中轴线对称设置，且第一控制杆(3)和第二控制杆(4)与横板(2)的连接方式均为螺纹连接，并且第一控制杆(3)和第二控制杆(4)通过皮带(5)构成传动结构。

4.根据权利要求1所述的一种硅片用测试平台，其特征在于：所述盛放板(8)的下表面形状与底板(6)的上表面形状相吻合，且盛放板(8)与底板(6)的连接方式为卡合连接。

5.根据权利要求1所述的一种硅片用测试平台，其特征在于：所述控制件(12)的纵截面形状为“L”字型，且控制件(12)的下端与固定板(13)的上表面紧密贴合设置。

6.根据权利要求1所述的一种硅片用测试平台，其特征在于：所述控制件(12)与竖杆(11)构成转动结构，且竖杆(11)的下端外径尺寸与固定座(10)的内径尺寸相等，并且竖杆(11)与固定座(10)的连接方式为螺纹连接。