[发明专利]闪存存储设备的测试方法及装置在审
| 申请号： | 202011608228.0 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112530512A | 公开（公告）日： | 2021-03-19 |
| 发明（设计）人： | 张坤 | 申请（专利权）人： | 北京泽石科技有限公司;泽石科技（武汉）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 董文倩 |
| 地址： | 100085 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种闪存存储设备的测试方法及装置。其中，该方法包括：采用测试用例对多个计算机闪存存储设备进行读写测试，得到测试数据；通过聚类算法对测试数据进行聚类，得到多个数据集合；根据多个数据集合生成测试结果。本发明解决了相关技术中通过专用的读写工具生成测试日志，人工分析测试日志确定闪存存储设备的读写速度，误差较大，效率较低的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 闪存 存储 设备 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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