[发明专利]闪存存储设备的测试方法及装置

说明书

本发明公开了一种闪存存储设备的测试方法及装置。其中，该方法包括：采用测试用例对多个计算机闪存存储设备进行读写测试，得到测试数据；通过聚类算法对测试数据进行聚类，得到多个数据集合；根据多个数据集合生成测试结果。本发明解决了相关技术中通过专用的读写工具生成测试日志，人工分析测试日志确定闪存存储设备的读写速度，误差较大，效率较低的技术问题。

技术领域

本发明涉及硬件测试领域，具体而言，涉及一种闪存存储设备的测试方法及装置。

背景技术

相关技术中的闪存存储设备性能测试方法主要是使用专用的硬盘读写工具比如说FIO、BIT等进行速度测试，在程序中设置一个读写速度的阈值作为性能判定标准，对速度在不同的阈值区间进行分类，速度小于该阈值则为性能较差，反之则读写性能优。或者测试结果只是输出到测试工具的日志中，人工分析日志的读写速度数据进行主观判断闪存存储设备读写性能优良。存在误差较大，效率较低的问题。

相关技术中通过阈值作为判定标准会使得判定标准僵硬化，不具有过渡性，处在阈值附近的数值会因为较小的差别被错判或者误判(比如说判定标准阈值是300M/S，若闪存存储设备的实测速率是299M/S，由于小于阈值则会错判为速度低)；而打印到日志中分析的方法，对于小批量的闪存存储设备还可以考虑，对于大批量的闪存存储设备来说就会效率极低。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种闪存存储设备的测试方法及装置，以至少解决相关技术中通过专用的读写工具生成测试日志，人工分析测试日志确定闪存存储设备的读写速度，误差较大，效率较低的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种闪存存储设备的测试方法，包括：采用测试用例对多个闪存存储设备进行读写测试，得到测试数据；通过聚类算法对所述测试数据进行聚类，得到多个数据集合；根据所述多个数据集合生成测试结果。

可选的，采用测试用例对多个闪存存储设备进行读写测试，得到测试数据包括：控制所述多个闪存存储设备运行所述测试用例进行读写测试；确定所述多个闪存存储设备中成功完成所述测试用例的测试通过闪存存储设备；获取所述测试通过闪存存储设备进行读写测试得到的数据，并将得到的所述数据作为所述测试数据。

可选的，通过聚类算法对所述测试数据进行聚类，得到多个数据集合包括：选取多个质心，其中，所述质心与所述数据集合一一对应；通过聚类算法根据多个所述质心，对所述测试数据进行聚类，得到多个数据集合。

可选的，选取多个质心包括：选取多个初始质心；对多个所述初始质心进行优化，得到多个更新质心；在多个所述更新质心分别与对应的所述初始质心的距离，均小于预设距离的情况下，确定多个更新质心为所述多个质心；在多个所述更新质心分别与对应的所述初始质心的距离，不小于预设距离的情况下，将多个真实质心作为新的初始质心再次进行优化，直至优化后的多个所述更新质心分别与对应的所述初始质心的距离，均小于预设距离。

可选的，选取多个初始质心包括：将需要得到的数据集合的数量为所述质心的数量；确定每个闪存存储设备的测试数据的数据向量，其中，所述测试数据包括读写数据，所述读写数据包括读取速度和写入速度，所述数据向量为根据所述读取速度和写入速度对应的坐标计算得到的；随机选取一个读写数据作为第一初始质心；根据测试数据中的读写数据的数据向量和所述第一初始质心，确定第二初始质心；根据测试数据中的读写数据的数据向量和所述第二初始质心，确定第三初始质心，直至确定出所述数量的初始质心。