[发明专利]闪存存储设备的测试方法及装置在审
申请号: | 202011608228.0 | 申请日: | 2020-12-29 |
公开(公告)号: | CN112530512A | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | 张坤 | 申请(专利权)人: | 北京泽石科技有限公司;泽石科技(武汉)有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56;G06K9/62 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 董文倩 |
地址: | 100085 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 闪存 存储 设备 测试 方法 装置 | ||
1.一种闪存存储设备的测试方法,其特征在于,包括:
采用测试用例对多个计算机闪存存储设备进行读写测试,得到测试数据;
通过聚类算法对所述测试数据进行聚类,得到多个数据集合;
根据所述多个数据集合生成测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,采用测试用例对多个计算机闪存存储设备进行读写测试,得到测试数据包括:
控制所述多个闪存存储设备运行所述测试用例进行读写测试;
确定所述多个闪存存储设备中成功完成所述测试用例的测试通过闪存存储设备;
获取所述测试通过闪存存储设备进行读写测试得到的数据,并将得到的所述数据作为所述测试数据。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过聚类算法对所述测试数据进行聚类,得到多个数据集合包括:
选取多个质心,其中,所述质心与所述数据集合一一对应;
通过聚类算法根据多个所述质心,对所述测试数据进行聚类,得到多个数据集合。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,选取多个质心包括:
选取多个初始质心;
对多个所述初始质心进行优化,得到多个更新质心;
在多个所述更新质心分别与对应的所述初始质心的距离,均小于预设距离的情况下,确定多个更新质心为所述多个质心;
在多个所述更新质心分别与对应的所述初始质心的距离,不小于预设距离的情况下,将多个真实质心作为新的初始质心再次进行优化,直至优化后的多个所述更新质心分别与对应的所述初始质心的距离,均小于预设距离。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,选取多个初始质心包括:
将需要得到的数据集合的数量为所述质心的数量;
确定每个闪存存储设备的测试数据的数据向量,其中,所述测试数据包括读写数据,所述读写数据包括读取速度和写入速度,所述数据向量为根据所述读取速度和写入速度对应的坐标计算得到的;
随机选取一个读写数据作为第一初始质心;
根据测试数据中的读写数据的数据向量和所述第一初始质心,确定第二初始质心;
根据测试数据中的读写数据的数据向量和所述第二初始质心,确定第三初始质心,直至确定出所述数量的初始质心。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,根据测试数据中的读写数据的数据向量和所述第一初始质心,确定第二初始质心包括:
确定所述测试数据中除所述第一初始质心之外的读写数据,与所述第一初始质心的距离;
根据所述距离,确定所述测试数据中除所述第一初始质心之外的读写数据为第二初始质心的概率;
选取所述概率最大的读写数据作为第二初始质心;
根据测试数据中的读写数据的数据向量和所述第二初始质心,确定第三初始质心包括:
确定所述测试数据中除所述第一初始质心和所述第二初始质心之外的读写数据,与所述第二初始质心的距离;
根据所述距离,确定所述测试数据中除所述第一初始质心和所述第二初始质心之外的读写数据为第三初始质心的概率;
选取所述概率最大的读写数据作为第三初始质心。
7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,对多个所述初始质心进行优化,得到多个更新质心包括:
根据所述测试数据的读写数据与所述多个初始质心的距离,对所述测试数据的读写数据进行分类,得到多个所述初始质心对应的多个初始集合,其中,所述读写数据属于与所述读写数据距离最近的初始质心对应的初始集合;
确定多个初始集合的实际质心,作为所述初始集合的初始质心对应的更新质心,得到多个所述更新质心。
8.一种闪存存储设备的测试装置,其特征在于,包括:
测试模块,用于采用测试用例对多个闪存存储设备进行读写测试,得到测试数据;
聚类模块,用于通过聚类算法对所述测试数据进行聚类,得到多个数据集合;
生成模块,用于根据所述多个数据集合生成测试结果。
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