[发明专利]非易失芯片强0修复验证方法、装置、存储介质和终端有效
| 申请号： | 202011554835.3 | 申请日： | 2020-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN112464501B | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 张新展;陈胜源;朱雨萌;张宇 | 申请（专利权）人： | 芯天下技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377 | 代理人： | 陈志超;唐敏珊 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区园山街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种非易失芯片强0修复验证方法、装置、存储介质和终端，首先随机化将第一数组内的部分数据初始为0，之后根据第一数组为0的位置找到第二数组该位置，将第二数组该位置数据概率性初始化为1；通过使用随机化及概率化操作以模拟Nor Flash中存在弱0的存储单元，通过对比第一数组内的数据和第二数组内的数据，找到第二数组中需要进行stress0的存储单元，然后执行stress0操作，再对比第一数组内的数据和第二数组内的数据，若一致，则对第二数组执行stress0成功，反之stress0执行不成功；本方案中，通过将第二数组内的某些数据概率性地初始化为0，提高了验证的随机性，使验证的准确性更高。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失 芯片 修复 验证 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
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