[发明专利]基于真实建模的过擦除验证方法、装置、存储介质和终端有效
| 申请号： | 202011554822.6 | 申请日： | 2020-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN112466376B | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 张新展;陈胜源;朱雨萌;张宇 | 申请（专利权）人： | 芯天下技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34;G11C29/44 |
| 代理公司： | 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377 | 代理人： | 陈志超;唐敏珊 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区园山街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于真实建模的过擦除验证方法、装置、存储介质和终端，通过使用Verilog代码对非易失存储器内需要进行过擦除修复的存储单元进行建模，在接收过擦除修复指令时，产生一个随机数，根据随机数对数组模型内的存储单元执行过擦除修复，当检测到操作次数达到随机数时，判断数组模型内的存储单元的数据是否全部写为0并输出过擦除修改验证结果；在对非易失存储器控制端的验证阶段，通过Verilog代码建立一个高度接近实际的数组模型，通过验证数组模型去模拟非易失存储器控制端对于过擦除修复的真实特性，能更加准确的验证控制端操作的准确性，而且自动检查过擦除修复操作结果则增强了验证的自动化程度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 真实 建模 擦除 验证 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
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