[发明专利]基于真实建模的过擦除验证方法、装置、存储介质和终端有效
| 申请号: | 202011554822.6 | 申请日: | 2020-12-24 |
| 公开(公告)号: | CN112466376B | 公开(公告)日: | 2021-11-30 |
| 发明(设计)人: | 张新展;陈胜源;朱雨萌;张宇 | 申请(专利权)人: | 芯天下技术股份有限公司 |
| 主分类号: | G11C16/34 | 分类号: | G11C16/34;G11C29/44 |
| 代理公司: | 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377 | 代理人: | 陈志超;唐敏珊 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市龙岗区园山街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 真实 建模 擦除 验证 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
1.一种基于真实建模的过擦除验证方法,其特征在于,具体包括以下步骤:
使用Verilog代码对非易失存储器内需要进行过擦除修复的存储单元进行建模,得到数组模型;
接收过擦除修复指令,随机生成一个随机操作次数;
根据过擦除修复指令和随机操作次数对数组模型内的存储单元执行过擦除修复;
判断操作次数是否达到随机操作次数,
否则跳转至根据过擦除修复指令和随机操作次数对数组模型内的存储单元执行过擦除修复;
是则判断数组模型内的全部存储单元是否成功执行过擦除修复,得到过擦除修复验证结果并输出。
2.根据权利要求1所述的基于真实建模的过擦除验证方法,其特征在于,所述判断数组模型内的全部存储单元是否成功执行过擦除修复,具体过程如下:判断数组模型内的存储单元的数据是否全部写为0。
3.根据权利要求1所述的基于真实建模的过擦除验证方法,其特征在于,所述判断数组模型内的全部存储单元是否成功执行过擦除修复,得到过擦除修复验证结果并输出,具体包括以下步骤:
s51:判断数组模型内的存储单元的数据是否全部写为0,是则跳转至s52,否则跳转至s53;
s52:过擦除修复成功,输出验证结果;
s53:过擦除修复失败,输出验证结果。
4.根据权利要求1所述的基于真实建模的过擦除验证方法,其特征在于,所述使用Verilog代码对非易失存储器内需要进行过擦除修复的存储单元进行建模,得到数组模型,具体过程如下:使用Verilog代码对非易失存储器内需要进行过擦除修复的存储单元进行建模,建立一个与非易失存储器内需要进行过擦除修复的存储单元一致的数组,数组内设置有若干个bit,每个bit对应非易失存储器内的一个存储单元,该数组即为数组模型。
5.根据权利要求1所述的基于真实建模的过擦除验证方法,其特征在于,所述数组模型内的全部存储单元内的数据初始为1。
6.根据权利要求5所述的基于真实建模的过擦除验证方法,其特征在于,所述根据过擦除修复指令和随机操作次数对数组模型内的存储单元执行过擦除修复,每执行一次过擦除修复,使数组模型内的存储单元随机部分写为0。
7.一种基于真实建模的过擦除验证装置,其特征在于,包括:
建模模块,使用Verilog代码对非易失存储器内需要进行过擦除修复的存储单元进行建模,得到数组模型;
操作次数生成模块,接收过擦除修复指令,随机生成一个随机操作次数;
过擦除修复执行模块,根据过擦除修复指令和随机操作次数对数组模型内的存储单元执行过擦除修复;
判断模块,判断操作次数是否达到随机操作次数;
判断输出模块,判断数组模型内的全部存储单元是否成功执行过擦除修复,得到过擦除修复验证结果并输出。
8.根据权利要求7所述的基于真实建模的过擦除验证装置,其特征在于,所述判断输出模块包括:
过擦除修复判断模块,判断数组模型内的存储单元的数据是否全部写为0,得到过擦除修复验证结果;
过擦除修复验证结果输出模块,输出过擦除修复验证结果。
9.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质中存储有计算机程序,当所述计算机程序在计算机上运行时,使得所述计算机执行权利要求1至6任一项所述的方法。
10.一种过擦除验证终端,其特征在于,包括处理器和存储器,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器通过调用所述存储器中存储的所述计算机程序,用于执行权利要求1至6任一项所述的方法。
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