[发明专利]基于延时环冗余状态信息的高精度时间测量装置及方法有效
| 申请号： | 202011547857.7 | 申请日： | 2020-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN112650044B | 公开（公告）日： | 2021-09-10 |
| 发明（设计）人： | 张杰;邓雨晨;钟世明 | 申请（专利权）人： | 中国科学院精密测量科学与技术创新研究院 |
| 主分类号： | G04F10/00 | 分类号： | G04F10/00 |
| 代理公司： | 北京恒和顿知识产权代理有限公司 11014 | 代理人： | 王福新 |
| 地址： | 430077 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于高精度时间频率测量领域，并具体公开了一种基于延时环冗余状态信息的高精度时间测量装置及方法。包括延时环内插器、延时环逻辑门状态信息锁存模块、冗余状态信息时间序列存储模块和测量数据统计分析模块。延时环内插器由具有专用进位链的逻辑门组成，实现一阶内插细分。延时环逻辑门状态信息锁存模块和冗余状态信息时间序列存储模块实现冗余状态信息细分电路，同步锁存延时环逻辑门输出状态信息，对延时环内插器进行二阶等效细分，测量数据统计分析模块分析计算测量结果。本发明利用FPGA逻辑门固有的传输延时不一致特性，通过冗余状态信息细分电路实现对延时环内插器的二阶细分，以提高时间测量分辨率和测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 延时 冗余 状态 信息 高精度 时间 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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