[发明专利]存储器完整性性能增强系统和方法在审

专利信息
申请号: 202011534760.2 申请日: 2020-12-23
公开(公告)号: CN113741801A 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: S·什哈布拉;R·佩雷斯;陈星闵;M·佩迪雷迪 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06;G06F11/10;G06F21/78
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 郭美琪;吕传奇
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 存储器完整性性能增强系统和方法。写入请求使控制器电路将加密数据行和包括MAC数据和第一ECC数据部分的第一层元数据部分写入第一存储器电路部分,并且将第二ECC数据部分写入隔绝的第二存储器电路部分。读取请求使控制器电路从第一存储器电路部分读取加密数据行和第一层元数据部分。控制器电路使用包括在第一层元数据部分中的第一ECC数据部分来确定加密数据行中是否存在错误。如果未检测到错误,则控制器电路解密该数据行,并且使用包括在第一层元数据部分中的MAC数据验证该数据行。如果控制器电路在数据行中检测到错误,则从隔绝的第二存储器电路部分取出包含第二ECC数据部分的第二层元数据部分并纠正错误。
搜索关键词: 存储器 完整性 性能 增强 系统 方法
【主权项】:
暂无信息
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