[发明专利]一种处理器性能测试方法及装置在审
申请号: | 202011516963.9 | 申请日: | 2020-12-21 |
公开(公告)号: | CN112559269A | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
发明(设计)人: | 闫亚闯 | 申请(专利权)人: | 北京安兔兔科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 孟维娜;高莺然 |
地址: | 100041 北京市石景山区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例提供了一种处理器性能测试方法及装置,涉及电子设备测试技术领域,其中,上述方法包括:创建至少两个运行于处理器上的线程;控制所创建的线程分别对无序数据组中的数据进行并行的排序处理,直至每一线程进行排序处理的累计时长分别不小于预设时长;统计各个线程完成排序处理的总次数;根据总次数,计算用于表示处理器的性能的性能值,得到测试结果。应用本发明实施例提供的方案能够测试电子设备中处理器的性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 处理器 性能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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