[发明专利]一种处理器性能测试方法及装置

说明书

本发明实施例提供了一种处理器性能测试方法及装置，涉及电子设备测试技术领域，其中，上述方法包括：创建至少两个运行于处理器上的线程；控制所创建的线程分别对无序数据组中的数据进行并行的排序处理，直至每一线程进行排序处理的累计时长分别不小于预设时长；统计各个线程完成排序处理的总次数；根据总次数，计算用于表示处理器的性能的性能值，得到测试结果。应用本发明实施例提供的方案能够测试电子设备中处理器的性能。

技术领域

本发明涉及电子设备测试技术领域，特别是涉及一种处理器性能测试方法及装置。

背景技术

电子设备是由多种不同的器件组合而成的，例如，电子计算机中包含数据存储器件、电子屏幕、处理器等器件。各个器件的性能均会对电子设备的性能带来影响，特别是用于进行数据处理的处理器，会直接影响电子设备进行数据处理的速度，从而影响电子设备的性能。

现有技术中存在多种不同的处理器，不同处理器的性能不同。若要检测电子设备的性能，需要测试电子设备中处理器的性能。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种处理器性能测试方法及装置，以测试电子设备中处理器的性能。具体技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种处理器性能测试方法，所述方法包括：

创建至少两个运行于处理器上的线程；

控制所创建的线程分别对无序数据组中的数据进行并行的排序处理，直至每一线程进行排序处理的累计时长分别不小于预设时长；

统计各个线程完成排序处理的总次数；

根据所述总次数，计算用于表示所述处理器的性能的性能值，得到测试结果。

本发明的一个实施例中，所述控制所创建的线程分别对无序数据组中的数据进行并行的排序处理，直至每一线程进行排序处理的累计时长分别不小于预设时长，包括：

针对每一所创建的线程，通过以下方式控制该线程进行排序处理：

随机生成一个无序数据组；

控制该线程对所生成的无序数据组中的数据进行排序处理，直至该线程完成所述排序处理；

判断该线程从生成第一个无序数据组开始的累计时长是否到达所述预设时长；

若为否，则返回执行所述随机生成一个无序数据组的步骤。

本发明的一个实施例中，所述创建至少两个运行于处理器上的线程，包括：

确定处理器上能够创建的线程的最大数量；

创建所述最大数量个运行于处理器上的线程。

本发明的一个实施例中，所述根据所述总次数，计算用于表示所述处理器的性能的性能值，得到测试结果，包括：

确定所述处理器的固有属性；

获得所述总次数对所述处理器的性能的第一影响值，并获得所确定的固有属性对所述处理器的性能的第二影响值；

基于所获得的第一影响值与第二影响值，计算所述性能值，得到测试结果。

本发明的一个实施例中，所述方法还包括：

统计每一线程完成排序处理的子次数；

确定运行每一线程的核心在控制该线程运行的过程中占用的处理器的资源量，其中，所述核心为物理核心或逻辑核心；

针对每一核心，获得该核心运行的线程对应的子次数对该核心的性能的第一子影响值，并获得该核心的资源量对该核心的性能的第二子影响值；