[发明专利]用于电路版图的热点检测方法、设备和存储介质在审
| 申请号： | 202011486891.8 | 申请日： | 2020-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN112559181A | 公开（公告）日： | 2021-03-26 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 全芯智造技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F9/50 | 分类号： | G06F9/50;G06F30/398 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 黄倩 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新区*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 根据本公开的示例实施例，提供了用于电路版图的热点检测方法、设备和计算机可读存储介质。用于电路版图的热点检测方法包括生成多个子作业，以用于从电路版图中检测具有潜在缺陷的热点。每个子作业对应于电路版图的一个版图单元，并且指定要利用版图单元而执行的一个或多个操作。该方法还包括基于多个处理设备的配置信息和一个或多个操作的类型，将多个子作业分配给多个处理设备。多个处理设备中的至少一个处理设备被配置有加速处理资源。该方法进一步包括基于多个处理设备对多个子作业的检测结果，确定电路版图所包括的一个或多个热点。以此方式，能够有利地实现快速且高效的热点检测方案。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电路 版图 热点 检测 方法 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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