[发明专利]一种检测集成电路缺陷的方法及装置在审
| 申请号： | 202011454930.6 | 申请日： | 2020-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN112505527A | 公开（公告）日： | 2021-03-16 |
| 发明（设计）人： | 黄锡军;刘彦静 | 申请（专利权）人： | 杭州迪普信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 王茹 |
| 地址： | 310051 浙江省杭州市滨江区*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本说明书提供一种检测集成电路缺陷的方法，会先将各个FIFO数据缓存器进行分组：根据集成电路的各个FIFO数据缓存器之间的位置关系，将并联的FIFO数据缓存器划分为一组，将串联的FIFO数据缓存器划分为不同的组。然后根据每组FIFO数据缓存器的测试目标构造测试例，针对每组FIFO数据缓存器，基于对应的测试例对该组FIFO数据缓存器进行反压测试(触发该组FIFO数据缓存器的反压状态)，以便实现对集成电路的缺陷检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 集成电路 缺陷 方法 装置 | ||
【主权项】：
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