[发明专利]一种检测集成电路缺陷的方法及装置

说明书

本说明书提供一种检测集成电路缺陷的方法，会先将各个FIFO数据缓存器进行分组：根据集成电路的各个FIFO数据缓存器之间的位置关系，将并联的FIFO数据缓存器划分为一组，将串联的FIFO数据缓存器划分为不同的组。然后根据每组FIFO数据缓存器的测试目标构造测试例，针对每组FIFO数据缓存器，基于对应的测试例对该组FIFO数据缓存器进行反压测试(触发该组FIFO数据缓存器的反压状态)，以便实现对集成电路的缺陷检测。

技术领域

本说明书涉及集成电路领域，尤其涉及一种检测集成电路缺陷的方法及装置。

背景技术

先进先出(First Input First Output，FIFO)数据缓存器是集成电路中重要的组成部分之一，当FIFO数据缓存器已满或者快满时，会给出满标志信号(即反压)，阻止继续向FIFO数据缓存器写入的操作，避免造成写入溢出。

集成电路的有多个FIFO数据缓存器，在设计集成电路时，会测试集成电路的各项功能以确定集成电路设计是否存在缺陷(例如处理上的错误)，测试FIFO反压对集成电路的影响是其中一项重要的测试指标，因此，需要尽快地暴露FIFO反压时集成电路设计存在的缺陷，以尽快克服FIFO反压时集成电路设计的缺陷。

现有技术中，为了测试得较全面，技术人员需要很多的时间与精力构造一个很复杂的测试例，对集成电路进行集成电路缺陷检测。

发明内容

为克服上述网络服务器压力大的问题，本说明书提供了一种会话表控制方法及装置。

本说明书提供了一种检测集成电路缺陷的方法，预先根据集成电路的各个先进先出FIFO数据缓存器之间的位置关系，将并联的FIFO数据缓存器划分为一组，将串联的FIFO数据缓存器划分为不同的组；将不同的测试目标的测试例分配给不同组的FIFO数据缓存器；

所述方法包括：

针对每组FIFO数据缓存器，基于对应的测试例对该组FIFO数据缓存器进行反压测试，以便实现对所述集成电路的缺陷检测。

本说明书还提供一种检测集成电路缺陷的装置，预先根据集成电路的各个先进先出FIFO数据缓存器之间的位置关系，将并联的FIFO数据缓存器划分为一组，将串联的FIFO数据缓存器划分为不同的组；将不同的测试目标的测试例分配给不同组的FIFO数据缓存器；

所述装置包括：

缺陷检测单元，用于针对每组FIFO数据缓存器，基于对应的测试例对该组FIFO数据缓存器进行反压测试，以便实现对所述集成电路的缺陷检测。

本说明书实施例的技术方案，会先将各个FIFO数据缓存器进行分组：根据集成电路的各个FIFO数据缓存器之间的位置关系，将并联的FIFO数据缓存器划分为一组，将串联的FIFO数据缓存器划分为不同的组。然后根据每组FIFO数据缓存器的测试目标构造测试例，针对每组FIFO数据缓存器，基于对应的测试例对该组FIFO数据缓存器进行反压测试(触发该组FIFO数据缓存器的反压状态)，以便实现对集成电路的缺陷检测。

通过本说明书实施例的技术方案，通过对FIFO数据缓存器进行分组，使每组FIFO数据缓存器对应的测试例的测试目标不同，从而简化了测试例的构造，同时缩短了测试时间。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本说明书。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本说明书的实施例，并与说明书一起用于解释本说明书的原理。

图1是本说明书示出的待验证模块中各FIFO数据缓存器所处位置示意图。

图2是本说明书示出的一种检测集成电路缺陷的方法流程示意图。