[发明专利]一种检测集成电路缺陷的方法及装置

权利要求书

1.一种检测集成电路缺陷的方法，其特征在于，预先根据集成电路的各个先进先出FIFO数据缓存器之间的位置关系，将并联的FIFO数据缓存器划分为一组，将串联的FIFO数据缓存器划分为不同的组；将不同的测试目标的测试例分配给不同组的FIFO数据缓存器；

所述方法包括：

针对每组FIFO数据缓存器，基于对应的测试例对该组FIFO数据缓存器进行反压测试，以便实现对所述集成电路的缺陷检测。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，预先为每个FIFO数据缓存器配置随机反压控制模块；

针对每组FIFO数据缓存器，该组FIFO数据缓存器对应的测试例包含反压配置信息，用于从以下维度对该组FIFO数据缓存器中每个FIFO数据缓存器对应的随机反压控制模块进行配置：

随机性、持续性、累包。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，针对每组FIFO数据缓存器，在基于对应的测试例对该组FIFO数据缓存器进行反压测试之前，还包括：

调度对应的测试例所包含的反压配置信息；

将调度出的反压配置信息经过配置通道配置到配置资源池，以便该组FIFO数据缓存器中每个FIFO数据缓存器对应的随机反压控制模块从所述配置资源池读取反压配置信息。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，每个随机反压控制模块基于读取的反压配置信息，控制对应的FIFO数据缓存器的反压行为。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，每个随机反压控制模块基于读取的反压配置信息，控制对应的FIFO数据缓存器的反压行为，包括：

每个随机反压控制模块基于读取的反压配置信息，控制对应的FIFO数据缓存器随机触发反压与随机触发累包。

6.一种检测集成电路缺陷的装置，其特征在于，预先根据集成电路的各个先进先出FIFO数据缓存器之间的位置关系，将并联的FIFO数据缓存器划分为一组，将串联的FIFO数据缓存器划分为不同的组；将不同的测试目标的测试例分配给不同组的FIFO数据缓存器；

所述装置包括：

缺陷检测单元，用于针对每组FIFO数据缓存器，基于对应的测试例对该组FIFO数据缓存器进行反压测试，以便实现对所述集成电路的缺陷检测。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，预先为每个FIFO数据缓存器配置随机反压控制模块；

针对每组FIFO数据缓存器，该组FIFO数据缓存器对应的测试例包含反压配置信息，用于从以下维度对该组FIFO数据缓存器中每个FIFO数据缓存器对应的随机反压控制模块进行配置：

随机性、持续性、累包。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：

配置信息调度单元，用于针对每组FIFO数据缓存器，在基于对应的测试例对该组FIFO数据缓存器进行反压测试之前，调度对应的测试例所包含的反压配置信息；

配置信息配置单元，用于将调度出的反压配置信息经过配置通道配置到配置资源池，以便该组FIFO数据缓存器中每个FIFO数据缓存器对应的随机反压控制模块从所述配置资源池读取反压配置信息。

9.如权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：

控制单元，用于每个随机反压控制模块基于读取的反压配置信息，控制对应的FIFO数据缓存器的反压行为。

10.如权利要求9所述的装置，其特征在于，所述控制单元具体用于：

每个随机反压控制模块基于读取的反压配置信息，控制对应的FIFO数据缓存器随机触发反压与随机触发累包。