[发明专利]一种低介电聚酰亚胺薄膜及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202011424194.X 申请日: 2020-12-08
公开(公告)号: CN112625278A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 查俊伟;董晓迪;郑明胜 申请(专利权)人: 北京科技大学
主分类号: C08J5/18 分类号: C08J5/18;C08J3/24;C08G73/10;C08L79/08
代理公司: 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 代理人: 张仲波
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种低介电聚酰亚胺薄膜及其制备方法,属于微电子技术领域。所述聚酰亚胺薄膜采用联苯四甲酸二酐(BPDA)、1,4‑双(4‑氨基‑2‑三氟甲基苯氧基)苯(6FAPB)为单体,以三(4‑氨基苯基)胺(TPA)为交联剂,通过原位聚合的方法制备成5~15微米的薄膜,薄膜的介电常数为1.76~2.80。聚合过程中涉及的氨基总量与酸酐基总量的摩尔比为1∶1,其中三(4‑氨基苯基)胺中的氨基数在总的氨基数中所占的摩尔百分数为0.1~20.0%。该薄膜具有介电常数低、热力学性能稳定、加工性能良好的特点,在柔性电路板、微电子封装等领域具有广阔的应用前景。
搜索关键词: 一种 低介电 聚酰亚胺 薄膜 及其 制备 方法
【主权项】:
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