[发明专利]一种SATA芯片信号测试方法、系统及相关组件在审
| 申请号： | 202011405647.4 | 申请日： | 2020-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN112527578A | 公开（公告）日： | 2021-03-19 |
| 发明（设计）人： | 吴忠良 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 刘翠香 |
| 地址： | 250101 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种SATA芯片信号测试方法、系统、装置及可读存储介质，应用于内嵌SATA芯片的待测终端的操作系统，该方法包括：获取SATA芯片的内存映射空间；获取SATA芯片的内存映射基址；对SATA芯片的每种待测码型执行以下操作：确定该待测码型对应的偏移地址和地址值；将内存映射基址与偏移地址相加得到最终地址，将内存映射空间内最终地址的值修改为地址值，以使SATA芯片发出该待测码型对应的信号波形并发送到示波器进行测试。本申请不需要AWG就可完成对码型转换，节省了AWG的硬件费用，可适用于各类SATA芯片，有效解决了国产SATA芯片不支持AWG码型切换不能进行信号测试的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 sata 芯片 信号 测试 方法 系统 相关 组件 | ||
【主权项】：
暂无信息
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