[发明专利]一种SATA芯片信号测试方法、系统及相关组件

权利要求书

1.一种SATA芯片信号测试方法，其特征在于，应用于内嵌SATA芯片的待测终端的操作系统，包括：

获取SATA芯片的内存映射空间；

获取所述SATA芯片的内存映射基址；

对所述SATA芯片的每种待测码型执行以下操作：

确定该待测码型对应的偏移地址和地址值；

将所述内存映射基址与所述偏移地址相加得到最终地址，将所述内存映射空间内最终地址的值修改为所述地址值，以使所述SATA芯片发出该待测码型对应的信号波形并发送到示波器进行测试。

2.根据权利要求1所述SATA芯片信号测试方法，其特征在于，所述确定该待测码型对应的偏移地址和地址值的过程，包括：

根据所述SATA芯片的映射关系表，确定该待测码型对应的偏移地址和地址值。

3.根据权利要求2所述SATA芯片信号测试方法，其特征在于，

所述SATA芯片的待测码型包括不同码型、不同速率的多种待测码型。

4.根据权利要求3所述SATA芯片信号测试方法，其特征在于，

所述码型包括HETP、MFTP、LFTP和LBP；

所述速率包括gen1、gen2和gen3。

5.根据权利要求4所述SATA芯片信号测试方法，其特征在于，

所述确定该待测码型对应的偏移地址和地址值的过程，包括：

确定该待测码型对应的速率偏移地址和速率地址值；

确定该待测码型对应的码型偏移地址和码型地址值；

所述将所述内存映射基址与所述偏移地址相加得到最终地址，将所述内存映射空间内最终地址的值修改为所述地址值的过程，包括：

将所述内存映射基址与所述速率偏移地址相加得到最终速率地址，将所述内存映射空间内最终速率地址的值修改为所述速率地址值，将所述内存映射基址与所述码型偏移地址相加得到最终码型地址，将所述内存映射空间内最终码型地址的值修改为所述码型地址值。

6.根据权利要求1至5任一项所述SATA芯片信号测试方法，其特征在于，所述待测终端的SATA接口与SATA测试夹具连接，所述SATA测试夹具的TX信号输出端口与示波器连接。

7.根据权利要求6所述SATA芯片信号测试方法，其特征在于，

所述将所述内存映射基址与所述偏移地址相加得到最终地址，将所述内存映射空间内最终地址的值修改为所述地址值之后，还包括：

在所述内存映射空间内调整emphasis和/或signal slew rate，以优化所述信号波形。

8.一种SATA芯片信号测试系统，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取SATA芯片的内存映射空间，还用于获取所述SATA芯片的内存映射基址；

动作模块，用于对所述SATA芯片的每种待测码型执行以下操作：

确定该待测码型对应的偏移地址和地址值；

将所述内存映射基址与所述偏移地址相加得到最终地址，将所述内存映射空间内最终地址的值修改为所述地址值，以使所述SATA芯片发出该待测码型对应的信号波形并发送到示波器进行测试。

9.一种SATA芯片信号测试装置，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述SATA芯片信号测试方法的步骤。

10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述SATA芯片信号测试方法的步骤。