[发明专利]一种SATA芯片信号测试方法、系统及相关组件

说明书

本申请公开了一种SATA芯片信号测试方法、系统、装置及可读存储介质，应用于内嵌SATA芯片的待测终端的操作系统，该方法包括：获取SATA芯片的内存映射空间；获取SATA芯片的内存映射基址；对SATA芯片的每种待测码型执行以下操作：确定该待测码型对应的偏移地址和地址值；将内存映射基址与偏移地址相加得到最终地址，将内存映射空间内最终地址的值修改为地址值，以使SATA芯片发出该待测码型对应的信号波形并发送到示波器进行测试。本申请不需要AWG就可完成对码型转换，节省了AWG的硬件费用，可适用于各类SATA芯片，有效解决了国产SATA芯片不支持AWG码型切换不能进行信号测试的问题。

技术领域

本发明涉及信号测试领域，特别涉及一种SATA芯片信号测试方法、系统及相关组件。

背景技术

当前，SATA(Serial Advanced Technology Attachment，串行高级技术接口)芯片的信号完整性测试，通常通过AWG(Any Waveform Generator，任意波形发生器)、SATA夹具以及示波器实现，其中AWG通过SATA夹具的RX接口，向SATA芯片发出一个指令波形，SATA芯片收到指令波形后转换码型发出测试信号，通过TX接口发送到示波器。然而，这种信号完整性测试要求SATA芯片支持码型转换，只适用于国外的SATA接口及控制器芯片，国产SATA芯片不支持这项功能，虽然使用相同的SATA协议，但无法根据AWG的指令波形自动切换码型，这给国产SATA芯片的完整性测试带来很大的挑战。

因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是目前本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种SATA芯片信号测试方法、系统及相关组件，以便在不接收AWG的指令波形时进行SATA芯片的信号测试。其具体方案如下：

一种SATA芯片信号测试方法，应用于内嵌SATA芯片的待测终端的操作系统，包括：

获取SATA芯片的内存映射空间；

获取所述SATA芯片的内存映射基址；

对所述SATA芯片的每种待测码型执行以下操作：

确定该待测码型对应的偏移地址和地址值；

将所述内存映射基址与所述偏移地址相加得到最终地址，将所述内存映射空间内最终地址的值修改为所述地址值，以使所述SATA芯片发出该待测码型对应的信号波形并发送到示波器进行测试。

优选的，所述确定该待测码型对应的偏移地址和地址值的过程，包括：

根据所述SATA芯片的映射关系表，确定该待测码型对应的偏移地址和地址值。

优选的，所述SATA芯片的待测码型包括不同码型、不同速率的多种待测码型。

优选的，所述码型包括HETP、MFTP、LFTP和LBP；所述速率包括gen1、gen2和gen3。

优选的，所述确定该待测码型对应的偏移地址和地址值的过程，包括：

确定该待测码型对应的速率偏移地址和速率地址值；

确定该待测码型对应的码型偏移地址和码型地址值；

所述将所述内存映射基址与所述偏移地址相加得到最终地址，将所述内存映射空间内最终地址的值修改为所述地址值的过程，包括：

将所述内存映射基址与所述速率偏移地址相加得到最终速率地址，将所述内存映射空间内最终速率地址的值修改为所述速率地址值，将所述内存映射基址与所述码型偏移地址相加得到最终码型地址，将所述内存映射空间内最终码型地址的值修改为所述码型地址值。