[发明专利]一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备有效
| 申请号： | 202011388840.1 | 申请日： | 2020-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN112474441B | 公开（公告）日： | 2022-07-29 |
| 发明（设计）人： | 周光杰;余振涛 | 申请（专利权）人： | 群沃电子科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/38 |
| 代理公司： | 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 | 代理人： | 王月松 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备。该设备包括：第一工控机控制第一机械手臂抓取全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机中的器件测试盘，放置在传送轨道上，由传送轨道传送至全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机；第二工控器控制第二机械手臂抓取传送轨道上的器件测试盘，放置在全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机的自动测试柜中测试器件测试盘的待测试器件；测试完毕后，第二工控机和第二机械手机取出自动测试柜的几千测试盘，放置在常熟轨道上，由传送轨道传送至全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，由第三控制器和第三机械手将器件测试盘内的测试器件取出分类。本发明能够提高测试效率，减免人工成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 全自动 芯片 老化 测试 pcb 屏蔽 流水线 设备 | ||
【主权项】：
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