[发明专利]一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备

说明书

本发明涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备。该设备包括：第一工控机控制第一机械手臂抓取全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机中的器件测试盘，放置在传送轨道上，由传送轨道传送至全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机；第二工控器控制第二机械手臂抓取传送轨道上的器件测试盘，放置在全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机的自动测试柜中测试器件测试盘的待测试器件；测试完毕后，第二工控机和第二机械手机取出自动测试柜的几千测试盘，放置在常熟轨道上，由传送轨道传送至全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机，由第三控制器和第三机械手将器件测试盘内的测试器件取出分类。本发明能够提高测试效率，减免人工成本。

技术领域

本发明涉及芯片老化测试及PCB屏蔽测试领域，特别是涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备。

背景技术

芯片老化测试是一种采用电压和高温来加速器件电学故障的电应力测试方法。老化过程基本上模拟运行了芯片整个寿命，因为老化过程中应用的电激励反映了芯片工作的最坏情况。根据不同的老化时间，所得资料的可靠性可能涉及到的器件的早期寿命或磨损程度。老化测试可以用来作为器件可靠性的检测或作为生产窗口来发现器件的早期故障。芯片复杂度越来越高，为了保证出厂的芯片没有问题，需要在出厂前进行测试以确保功能完整性等。而芯片作为一个大规模生产的东西，大规模自动化测试是唯一的解决办法。磁干扰/EMI 是整个电子领域必须面临和克服的一个问题，一般在无线通讯产品比如:手机、无线网卡、无线路由器、无线耳机、蓝牙耳机、wi-fi、wimax、数据卡、对讲机、RFID等等无线通讯类设备和无线通讯类模块等在进行板测、终测过程中，都是通过使用射频测试屏蔽箱来改善测试环境的。屏蔽箱又名屏蔽盒、隔离箱。是利用导电或者导磁材料制成的各种形状的屏蔽体，将电磁能力限制在一定空间范围内，用于抑制辐射干扰的金属体。并对传导和辐射进行处理，以实现给被测无线通讯设备提供无干扰的测试环境的设备。主要服务于各种从事无线电子产品、无线通讯产品生产及研发的企业，以及各类电子、电器消费类产品生产企业等。随着行业的发展，人工进行屏蔽测试的行为终将被自动化设备所替代。

发明内容

本发明的目的是提供一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备，以解决靠人工测试效率低，且人力成本高的问题。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备，包括：全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机、全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机以及全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机；

工控器分别与所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机、所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机以及所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机相连接；

所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机、所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机以及所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机通过传送轨道依次连接；所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机具有第一机械手臂以及第一工控机；所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机具有第二机械手臂以及第二工控机；所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机具有第三机械手臂以及第三工控机；所述第一工控机、所述第二工控机以及所述第三工控机相连接；

所述第一工控机控制所述第一机械手臂抓取所述全自动芯片老化测试及 PCB屏蔽测试上料机中的器件测试盘，放置在所述传送轨道上，由所述传送轨道传送至所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机；所述第二工控器控制所述第二机械手臂抓取所述传送轨道上的所述器件测试盘，放置在所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机的自动测试柜中测试所述器件测试盘的待测试器件；测试完毕后，所述第三工控器控制所述第三机械手臂抓取所述自动测试柜中的所述器件测试盘，放置在所述传送轨道上，由所述传送轨道传送至所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机。