[发明专利]一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备有效

专利信息
申请号: 202011388840.1 申请日: 2020-12-01
公开(公告)号: CN112474441B 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 周光杰;余振涛 申请(专利权)人: 群沃电子科技(苏州)有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/38
代理公司: 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 代理人: 王月松
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 全自动 芯片 老化 测试 pcb 屏蔽 流水线 设备
【权利要求书】:

1.一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试流水线设备,其特征在于,包括:第一限位气缸、第二限位气缸、全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机、全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机以及全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机;

工控器分别与所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机、所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机以及所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机相连接;

所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机、所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机以及所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机通过传送轨道依次连接;所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机具有第一机械手臂以及第一工控机;所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机具有第二机械手臂以及第二工控机;所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机具有第三机械手臂以及第三工控机;所述第一工控机、所述第二工控机以及所述第三工控机相连接;

所述第一工控机控制所述第一机械手臂,抓取所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机中的待测试器件,至器件测试盘,所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机通过丝杆传动,将所述器件测试盘搬运至所述传送轨道上,由所述传送轨道传送至所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机;所述第二工控机控制所述第二机械手臂抓取所述传送轨道上的所述器件测试盘,放置在所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机的自动测试柜中测试所述器件测试盘的待测试器件;测试完毕后,所述第二工控机控制所述第二机械手臂抓取所述自动测试柜中的所述器件测试盘,放置在所述传送轨道上,由所述传送轨道传送至所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机;

所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机,具体包括:器件自动上料机、器件测试盘上料机、第一扫码器以及所述第一机械手臂;器件自动上料机有4条轨道,每条轨道都具备第一进盘仓、第一出盘仓和器件取料区,且每个第一进盘仓放置20盘以上的料盘;

器件测试盘用来装载需要测试的器件,每个器件测试盘上有64个或更多器件测试座,放置64片或更多测试器件,并且每个器件测试盘上都单独配有二维码,对每块测试盘做标记;

所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机,具体包括:机器钣金、自动测试柜、第二机械手臂、传送轨道以及第二扫码器;

自动测试柜具有横排4*竖排6个共24个测试单元格,每个单元格上单独具有温度表和计时显示器;每个测试单元格单独控温单独计时,且每个测试单元格单独供电,根据需求对器件测试盘给出不同的电压电流,进行测试;自动测试柜的每个测试单元格能独立自动打开、关闭;每个测试单元格之间由隔热层和屏蔽层隔开,确保每个单元格独立进行老化或屏蔽测试;

在全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试上料机的显示屏上设置需要测试器件的种类、数量信息;在每台全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机的显示屏上设置器件种类以及对应的测试内容信息;在全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机的显示屏上设置器件种类以及本次测试数据的分类方式以及对应分类器件的储存位置信息并保存;

器件测试盘进入全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机后,经过第二扫码器读取器件测试盘上的二维码,识别器件测试盘上的器件型号,电脑对比之前输入的测试信息,确认器件测试内容后,依次选择测试单元格,下达测试信息内容指令;

所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机,具体包括:器件自动下料机、器件测试盘出料机、第三扫码器以及所述第三机械手臂;器件自动下料机有4条轨道,每条轨道都具备第二进盘仓、第二出盘仓和器件放料区,且每个进盘仓都可以放置20盘以上的料盘,4条轨道分别对应良品盘、第一不良品盘、第二不良品盘以及第三不良品盘,根据测试的结果对器件进行分类摆放;

还设置一个3D相机,该3D相机固定在全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机的主机底板上,用来检测测试后芯片外观;

所述第一限位气缸设于所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机内的传送轨道的第一位置;所述第一限位气缸与所述第二工控机电连接;所述第一限位气缸用于阻挡所述器件测试盘传输,并使得所述器件测试盘停留在所述第一位置;

所述第二限位气缸设于所述全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机内的传送轨道的第二位置处;所述第二限位气缸用于阻挡所述器件测试盘传输,并使得所述器件测试盘停留在所述第二位置,并由所述第二机械手臂抓取所述器件测试盘至自动测试柜中;

所述第一机械手臂,具体包括:X轴水平移动机构、Y轴水平移动机构、Z轴上升机构以及抓取机构;所述X轴水平移动机构、所述Y轴水平移动机构以及所述Z轴上升机构相互垂直;

所述Y轴水平移动机构固定于所述X轴水平移动机构上;所述Z轴上升机构固定于所述Y轴水平移动机构上;所述抓取机构固定于所述Z轴上升机构上;所述X轴水平移动机构用于带动所述Y轴水平移动机构做X向直线运动;所述Y轴水平移动机构用于带动所述Z轴上升机构做Y向直线运动;所述Z轴上升机构用于带动所述抓取机构做上下直线运动;

所述第二机械手臂以及所述第三机械手臂均与所述第一机械手臂结构相同;

所述抓取机构,具体包括:气缸夹紧装置、旋转马达、旋转电机和上相机;

所述气缸夹紧装置与旋转马达电连接;所述旋转马达与所述旋转电机电连接;所述气缸夹紧装置用于夹紧所述器件测试盘;所述旋转马达用于带动所述气缸夹紧装置做旋转运动;所述旋转电机用于调整抓取和放置所述器件测试盘时所述气缸夹紧装置的角度;

所述上相机设于所述气缸夹紧装置的一侧;所述上相机用于定位所述器件测试盘的当前位置。

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