[发明专利]用于硅后芯片验证的方法、系统、设备以及存储介质有效
| 申请号： | 202011375141.3 | 申请日： | 2020-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN112540288B | 公开（公告）日： | 2023-02-21 |
| 发明（设计）人： | 潘杰;陈元;曹亚桃 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 彭久云 |
| 地址： | 300392 天津市华苑产业区*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于硅后芯片验证的方法、系统、设备以及存储介质。该用于硅后芯片验证的方法包括：在用于芯片的测试程序的执行过程中提供断点；执行断点之后中断测试程序执行，且获取截止到断点的测试程序的第一执行结果；将第一执行结果与在参考模型中执行测试程序的第二执行结果进行比较；以及根据比较结果对芯片进行验证。该用于硅后芯片验证的方法可以提高硅后验证的覆盖率以及验证效率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 芯片 验证 方法 系统 设备 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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