[发明专利]用于硅后芯片验证的方法、系统、设备以及存储介质

权利要求书

1.一种用于硅后芯片验证的方法，包括：

在用于所述芯片的测试程序的执行过程中提供断点；

执行所述断点之后中断所述测试程序执行，且获取截止到所述断点的测试程序的第一执行结果；

将所述第一执行结果与在参考模型中执行所述测试程序的第二执行结果进行比较；以及

根据比较结果对所述芯片进行验证，

其中，在用于所述芯片的测试程序的执行过程中提供断点，包括：在执行所述测试程序的过程中将当前指令选择为断点指令，

在执行所述测试程序的过程中将当前指令选择为断点指令，包括：

设置断点指令设定值，

通过指令计数器在执行所述测试程序的过程中对发射的指令的数量进行计数，得到对应于发射所述当前指令的指令计数值，

当所述指令计数值与所述断点指令设定值相等时，将所述当前指令标记为断点指令。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，

当所述比较结果出现不一致，确定截止到所述断点发现问题。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，

响应于执行所述断点之后所述断点的退役，将所述第一执行结果转储到存储单元中，

转入对比过程将所述转储到所述存储单元中的数据与所述第二执行结果进行比较；

当比较结果一致时，重新设置断点，

将转储到所述存储单元中的数据重新加载到所述芯片内部，以回到所述测试程序截止到所述断点时的状态。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述断点指令设定值为随机数。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，将所述第一执行结果与在所述参考模型中执行所述测试程序的所述第二执行结果进行比较，包括：

响应于执行所述断点指令之后所述断点指令的退役，将所述第一执行结果转储到存储单元中，

转入对比过程将所述转储到所述存储单元中的数据与所述参考模型中对应的所述测试程序的所述第二执行结果进行比较。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，响应于执行所述断点指令之后所述断点指令的退役，将所述第一执行结果转储到所述存储单元中，包括：

在所述断点指令退役之前，在所述芯片上执行所述测试程序的过程中，将发射的指令进行乱序执行，其中，所述发射的指令包括所述断点指令，并且将所述乱序执行的所述发射的指令，按照所述指令被发射的先后顺序进行重排；以及

将重排后的指令顺序中将截止到所述断点指令的所述第一执行结果转储到所述存储单元中。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，将所述重排后的指令顺序中在所述断点指令之后的指令刷掉。

8.根据权利要求5所述的方法，其中，响应于执行所述断点指令之后所述断点指令的退役，将所述第一执行结果转储到存储单元中之前，还包括：

建立将所述第一执行结果转储到所述存储单元中的数据协议；以及

将所述数据协议告知所述对比过程，所述对比过程根据所述数据协议读取所述存储单元中转储的数据，

其中，所述数据协议包括所述测试程序的所述第一执行结果的存储格式。

9.根据权利要求5所述的方法，其中，

在所述断点指令退役之前，当发生所述发射的指令执行错误时，将出现执行错误的指令之后所有指令刷掉，恢复至发生所述发射的指令执行错误之前的状态；以及

将所述指令计数器统计的计数值恢复为没有发射所述执行错误的指令对应的指令计数值。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，

所述执行错误包括所述发射的指令中的分支指令的执行路径预测错误，从而导致所述断点指令在错误的执行路径上。

11.根据权利要求3、5和8任一所述的方法，其中，

当所述比较结果一致时，重新设置断点，以及

退出所述对比过程，继续执行所述测试程序。