[发明专利]用于硅后芯片验证的方法、系统、设备以及存储介质

说明书

一种用于硅后芯片验证的方法、系统、设备以及存储介质。该用于硅后芯片验证的方法包括：在用于芯片的测试程序的执行过程中提供断点；执行断点之后中断测试程序执行，且获取截止到断点的测试程序的第一执行结果；将第一执行结果与在参考模型中执行测试程序的第二执行结果进行比较；以及根据比较结果对芯片进行验证。该用于硅后芯片验证的方法可以提高硅后验证的覆盖率以及验证效率。

技术领域

本公开的实施例涉及一种用于硅后芯片验证的方法、系统、设备以及存储介质。

背景技术

在芯片验证领域，验证过程分为硅前和硅后两个阶段，它们共同来保证生产的芯片能够在应用场景正确被使用。目前芯片设计领域需要花费近70％的资源在硅前验证(pre-silicon verification)和硅后验证(post-silicon validation)上。随着芯片设计的复杂度逐渐提高，在硅前完成芯片设计的所有验证组件变成是一件不可能完成的任务。硅后验证的目的是确保芯片在实际的工作条件下能够正确执行真实软件，并查找与定位在硅前验证中未能发现的设计问题或者是生产制造中的缺陷。硅后验证在芯片验证环节中的重要性越来越高。

发明内容

本公开的实施例提供一种用于硅后芯片验证的方法、系统、设备以及存储介质。该用于硅后芯片验证的方法可以提高硅后验证的覆盖率以及验证效率。

本公开至少一个实施例提供了一种用于硅后芯片验证的方法，该方法包括：在用于所述芯片的测试程序的执行过程中提供断点；执行所述断点之后中断所述测试程序执行，且获取截止到所述断点的测试程序的第一执行结果；将所述第一执行结果与在参考模型中执行所述测试程序的第二执行结果进行比较；以及根据比较结果对所述芯片进行验证。

例如，在本公开至少一实施例提供的用于硅后芯片验证的方法中，当所述比较结果出现不一致，确定截止到所述断点发现问题。

例如，在本公开至少一实施例提供的用于硅后芯片验证的方法中，响应于执行所述断点之后所述断点的退役，将所述第一执行结果转储到存储单元中，转入对比过程将所述转储到所述存储单元中的数据与所述第二执行结果进行比较；当比较结果一致时，重新设置断点，将转储到所述存储单元中的数据重新加载到所述芯片内部，以回到所述测试程序截止到所述断点时的状态。

例如，在本公开至少一实施例提供的用于硅后芯片验证的方法中，在用于所述芯片的测试程序的执行过程中提供断点，包括：在执行所述测试程序的过程中将当前指令选择为断点指令。

例如，在本公开至少一实施例提供的用于硅后芯片验证的方法中，在执行所述测试程序的过程中将当前指令选择为断点指令，包括：设置断点指令设定值，通过指令计数器在执行所述测试程序的过程中对发射的指令的数量进行计数，得到对应于发射所述当前指令的指令计数值，当所述指令计数值与所述断点指令设定值相等时，将所述当前指令标记为断点指令。

例如，在本公开至少一实施例提供的用于硅后芯片验证的方法中，所述断点指令设定值为随机数。

例如，在本公开至少一实施例提供的用于硅后芯片验证的方法中，将所述第一执行结果与在所述参考模型中执行所述测试程序的所述第二执行结果进行比较，包括：响应于执行所述断点指令之后所述断点指令的退役，将所述第一执行结果转储到所述存储单元中，转入对比过程将所述转储到所述存储单元中的数据与所述参考模型中对应的所述测试程序的所述第二执行结果进行比较。

例如，在本公开至少一实施例提供的用于硅后芯片验证的方法中，响应于执行所述断点指令之后所述断点指令的退役，将所述第一执行结果转储到所述存储单元中，包括：在所述断点指令退役之前，在所述芯片上执行所述测试程序的过程中，将发射的指令进行乱序执行，其中，所述发射的指令包括所述断点指令，并且将所述乱序执行的所述发射的指令，按照所述指令被发射的先后顺序进行重排；以及将重排后的指令顺序中将截止到所述断点指令的所述第一执行结果转储到所述存储单元中。