[发明专利]芯片测试装置和芯片测试方法在审
| 申请号： | 202011301399.9 | 申请日： | 2020-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN112100015A | 公开（公告）日： | 2020-12-18 |
| 发明（设计）人： | 魏斌;成嵩;窦志军;王栋;徐靖林;金锐 | 申请（专利权）人： | 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/36;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 肖冰滨;王晓晓 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片测试装置和一种芯片测试方法，属于芯片测试领域。所述测试装置包括：测试设备库；底层函数库，封装有与所述测试设备库对应的接口函数库和数据处理函数库；关键字库，封装有用于调用的关键字；业务应用层，用于存储、执行和编写测试功能模块，所述业务应用层通过所述测试功能模块调用所述关键字库所形成的测试逻辑，组合和调用所述接口函数库和所述数据处理函数库中的算法驱动所述测试设备库对应的设备产生相应的测试信号，实现对所述芯片的测试。本发明通过测试装置完成对芯片的自动化测试，加快了芯片的测试开发进度。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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