[发明专利]芯片测试装置和芯片测试方法

说明书

本发明提供一种芯片测试装置和一种芯片测试方法，属于芯片测试领域。所述测试装置包括：测试设备库；底层函数库，封装有与所述测试设备库对应的接口函数库和数据处理函数库；关键字库，封装有用于调用的关键字；业务应用层，用于存储、执行和编写测试功能模块，所述业务应用层通过所述测试功能模块调用所述关键字库所形成的测试逻辑，组合和调用所述接口函数库和所述数据处理函数库中的算法驱动所述测试设备库对应的设备产生相应的测试信号，实现对所述芯片的测试。本发明通过测试装置完成对芯片的自动化测试，加快了芯片的测试开发进度。

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，具体地涉及一种芯片测试装置和一种芯片测试方法。

背景技术

随着芯片设计与制造技术的日新月异，芯片的复杂度有了很大的提升，芯片样品测试的工作量急剧增加。传统的手工测试无法完成大量并发、自动处理测试任务及数据等任务，且重复劳动量大，往往因为人为因素导致漏测。自动化测试可以很好地规范化测试过程，规避人工测试存在的问题，提升测试效率。

现有芯片测试技术，测试工具繁多，自动化工具复用性差，分散的测试工具也造成了测试数据的分散，对工具的操作以及对数据的处理很多还是需要人工参与的，效率低下，造成人力和资源的浪费。

发明内容

本发明实施方式的目的是提供一种芯片测试装置和一种芯片测试方法，以至少解决上述的芯片中测试工具繁多，自动化工具复用性差的问题。

为了实现上述目的，本发明第一方面提供一种芯片测试装置，所述测试装置包括：

测试设备库，用于产生相应的测试信号；

底层函数库，封装有与所述测试设备库对应的接口函数库和数据处理函数库；

关键字库，封装有用于调用的关键字，所述关键字与所述接口函数库和所述数据处理函数库中的算法一一对应；

业务应用层，用于存储、执行和编写测试功能模块，所述业务应用层通过所述测试功能模块调用所述关键字库所形成的测试逻辑，组合和调用所述接口函数库和所述数据处理函数库中的算法驱动所述测试设备库对应的设备产生相应的测试信号，实现对所述芯片的测试。

可选的，所述测试功能模块包括芯片测试规范对应的测试逻辑调用所述关键字库形成的测试用例脚本；

所述业务应用层用于通过运行所述测试用例脚本、调用所述关键字对应的数据处理函数库和接口函数库中的算法实现对所述芯片的测试。

可选的，所述测试功能模块包括芯片功能测试模块、芯片接口协议测试模块、芯片功耗测试模块、芯片可靠性测试模块、测试用例管理及报告生成模块中的一者或多者。

可选的，所述芯片测试装置还包括报错定位模块；所述报错定位模块用于对所述测试功能模块在执行测试用例脚本过程中出现的异常或者测试出的bug进行定位。

可选的，所述业务应用层用于运行所述测试用例脚本、调用所述关键字对应的接口函数库中的算法，将所述测试信号转换后作用于所述芯片产生返回值。

可选的，所述关键字库包括图表生成关键字库；

所述数据处理函数库包括python数据分析函数库；所述图表生成关键字库与所述python数据分析函数库相对应；所述芯片测试规范对应的测试逻辑包括图表生成逻辑；

所述测试用例管理及报告生成模块用于运行所述图表生成逻辑，调用所述图表生成关键字库对应的python数据分析函数库，运用python数据分析函数库自动处理所述返回值，并生成测试报告。

可选的，所述接口函数库包括SPI读写器驱动库、示波器驱动库、MP300驱动库、高速接口协议分析仪驱动库、同测设备驱动库中的一者或多者。