[发明专利]一种芯片测试装置及其测试方法在审
| 申请号： | 202011297657.0 | 申请日： | 2020-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN112415364A | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 深圳利朋技术研发有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试装置及其测试方法，属于芯片测试领域。一种芯片测试装置，包括检测箱和设备箱，所述检测箱固定连接在设备箱上，所述设备箱内转动连接有转动杆，所述设备箱上固定连接有气缸和活塞缸，所述推杆上固定连接有摩擦杆，所述气缸上固定连接有摩擦板，所述摩擦杆滑动连接在摩擦板上，所述转动杆通过往复机构与推杆相连接，所述气缸上固定连接有出气管，所述活塞缸上滑动连接有活塞杆；本发明使用简单，操作方便，通过把不同检测环境放置在一起进行检测，减少了检测时间，提高了检测效率，同时增加了检测的多样性，提高了对不同检测数据下芯片数据的收集，增加了使用安全保障。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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