[发明专利]数字电容隔离器测试分选系统及其分选装置在审
申请号: | 202011190778.5 | 申请日: | 2020-10-30 |
公开(公告)号: | CN112222020A | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
发明(设计)人: | 刘若智 | 申请(专利权)人: | 上海芯哲微电子科技股份有限公司 |
主分类号: | B07C5/344 | 分类号: | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38 |
代理公司: | 北京市浩东律师事务所 11499 | 代理人: | 李琼 |
地址: | 201404 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种数字电容隔离器测试分选系统,包括多路隔离器测试转接集成盒,集成盒内设有检测电路,用于接被测芯片;还包括测试系统及通信连接的分选系统;所述测试系统包括测试机及测试系统PC,测试机测试集成盒内的被测芯片,测试系统PC通过控制测试机的测试输入信号和/或测试输出信号通道的开启或关闭,来控制测试过程;所述测试机还用于检测测试过程中的检测信息,测试系统PC根据测试信息输出相应的测试结果;所述分选系统包括自动分选机、分选系统工控PLC和分选系统PC,测试机根据反馈信号得出判断结果,并将指令传输给分选系统的工控PLC,工控PLC控制自动分选机对检测后的产品根据质量分类。 | ||
搜索关键词: | 数字 电容 隔离器 测试 分选 系统 及其 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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