[发明专利]数字电容隔离器测试分选系统及其分选装置

说明书

一种数字电容隔离器测试分选系统，包括多路隔离器测试转接集成盒，集成盒内设有检测电路，用于接被测芯片；还包括测试系统及通信连接的分选系统；所述测试系统包括测试机及测试系统PC，测试机测试集成盒内的被测芯片，测试系统PC通过控制测试机的测试输入信号和/或测试输出信号通道的开启或关闭，来控制测试过程；所述测试机还用于检测测试过程中的检测信息，测试系统PC根据测试信息输出相应的测试结果；所述分选系统包括自动分选机、分选系统工控PLC和分选系统PC，测试机根据反馈信号得出判断结果，并将指令传输给分选系统的工控PLC，工控PLC控制自动分选机对检测后的产品根据质量分类。

技术领域

本发明涉及一种通用单/双/四单元数字电容隔离器测试分选技术领域，具体涉及数字电容隔离器测试分选系统及其分选装置。

背景技术

在集成电路设计封装测试领域中，数字电容隔离器一般分为一个单元、两个单元、四个单元等三种组合形式，使用量大的封装外形主要有窄体SOP8L,窄体SOP16L,宽体SOP8W和宽体SOP16W，DFN3*3-8L等五种，且对应可用来对数字电容隔离器测试的高速数模测试机种类型号因品牌不同有很多型号,比如:S100,J750,CHROMA 3380，T2000,AdvantestV93000等；在这种情况下,为使测试方法、原理和执行标准一致,且测试装置通用,性能稳定可靠,维护简便,故按照国标开发这个多路数字电容隔离器测试分选系统。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供的数字电容隔离器测试分选系统及其分选装置，解决了现有技术中数字电容隔离器无法标准一致检测的技术问题。

为了实现上述目的，本发明采用了如下的技术方案：数字电容隔离器测试分选系统及其分选装置，包括多路隔离器测试转接集成盒，集成盒内设有检测电路，用于接被测芯片；

还包括测试系统及通信连接的分选系统；

所述测试系统包括测试机及测试系统PC，测试机测试集成盒内的被测芯片，测试系统 PC通过控制测试机的测试输入信号和/或测试输出信号通道的开启或关闭，来控制测试过程；

所述测试机还用于检测测试过程中的检测信息，测试系统PC根据测试信息输出相应的测试结果；

所述分选系统包括自动分选机、分选系统工控PLC和分选系统PC，测试机根据反馈信号得出判断结果，并将指令传输给分选系统的工控PLC，工控PLC控制自动分选机对检测后的产品根据质量分类。

进一步地，所述测试机的测试输入信号和/或测试输出信号通道包括：

VDDA检测通道、VDDB检测通道、ENA检测通道、ENB检测通道和至少一组输入输出检测通道。

进一步地，还包括程控电源，所述程控电源包括电压源组、电流源组和信号源组；所述多路隔离器测试转接集成盒包括金手指；

所述VDDA检测通道包括VDDA引脚端和第一电控开关组，所述VDDA引脚端通过所述第一电控开关组分别对应连接于所述电压源组和所述电流源组；第一电控开关组的控制信号连接所述测试系统PC；所述VDDA引脚端连接于所述金手指，用于将检测信号接入芯片；

所述VDDB检测通道包括VDDB引脚端和第二电控开关组，所述VDDB引脚端通过所述第二电控开关组分别对应连接于所述的电压源组和电流源组；第二电控开关组的控制信号连接所述测试系统PC；VDDB引脚端连接于所述金手指，用于将检测信号接入芯片；

所述ENA检测通道包括ENA引脚端和第三电控开关组，ENA引脚端通过第三电控开关组分别对应连接于所述的电压源组和电流源组，第三电控开关组的控制信号连接所述测试系统PC；所述ENA引脚端连接于所述金手指，用于将检测信号接入芯片；