[发明专利]数字电容隔离器测试分选系统及其分选装置在审
| 申请号: | 202011190778.5 | 申请日: | 2020-10-30 |
| 公开(公告)号: | CN112222020A | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
| 发明(设计)人: | 刘若智 | 申请(专利权)人: | 上海芯哲微电子科技股份有限公司 |
| 主分类号: | B07C5/344 | 分类号: | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38 |
| 代理公司: | 北京市浩东律师事务所 11499 | 代理人: | 李琼 |
| 地址: | 201404 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 数字 电容 隔离器 测试 分选 系统 及其 装置 | ||
1.数字电容隔离器测试分选系统及其分选装置,其特征在于:
包括多路隔离器测试转接集成盒(7),集成盒内设有检测电路,用于接被测芯片;
还包括测试系统PC及通信连接的分选系统;
所述测试系统PC包括测试机及测试系统PC,测试机测试集成盒内的被测芯片,测试系统PC通过控制测试机的测试输入信号和/或测试输出信号通道的开启或关闭,来控制测试过程;
所述测试机还用于检测测试过程中的检测信息,测试系统PC根据测试信息输出相应的测试结果;
所述分选系统包括自动分选机(1)、分选系统工控PLC和分选系统PC,测试机根据反馈信号得出判断结果,并将指令传输给分选系统的工控PLC,工控PLC控制自动分选机(1)对检测后的产品根据质量分类。
2.根据权利要求1所述的数字电容隔离器测试分选系统及其分选装置,其特征在于:所述测试机的测试输入信号和/或测试输出信号通道包括:
VDDA检测通道、VDDB检测通道、ENA检测通道、ENB检测通道和至少一组输入输出检测通道。
3.根据权利要求2所述的数字电容隔离器测试分选系统及其分选装置,其特征在于:还包括程控电源,所述程控电源包括电压源组、电流源组和信号源组;所述多路隔离器测试转接集成盒(7)包括金手指;
所述VDDA检测通道包括VDDA引脚端和第一电控开关组,所述VDDA引脚端通过所述第一电控开关组分别对应连接于所述电压源组和所述电流源组;第一电控开关组的控制信号连接所述测试系统PC;所述VDDA引脚端连接于所述金手指,用于将检测信号接入芯片;
所述VDDB检测通道包括VDDB引脚端和第二电控开关组,所述VDDB引脚端通过所述第二电控开关组分别对应连接于所述的电压源组和电流源组;第二电控开关组的控制信号连接所述测试系统PC;VDDB引脚端连接于所述金手指,用于将检测信号接入芯片;
所述ENA检测通道包括ENA引脚端和第三电控开关组,ENA引脚端通过第三电控开关组分别对应连接于所述的电压源组和电流源组,第三电控开关组的控制信号连接所述测试系统PC;所述ENA引脚端连接于所述金手指,用于将检测信号接入芯片;
所述ENB检测通道包括ENB引脚端和第四电控开关组,ENB引脚端通过第四电控开关组分别对应连接于所述的电压源组和电流源组,第四电控开关组的控制信号连接所述测试系统PC;所述ENB引脚端连接于所述金手指,用于将检测信号接入芯片。
4.根据权利要求2所述的数字电容隔离器测试分选系统及其分选装置,其特征在于:所述输入输出检测通道包括输入检测通道和输出检测通道;
所述输入检测通道包括IN1、IN2、IN3、IN4引脚端和IN1输入电控开关组、IN2输入电控开关组、IN3输入电控开关组、IN4输入电控开关组;
IN1、IN2、IN3、IN4引脚端分别通过IN1输入电控开关组、IN2输入电控开关组、IN3输入电控开关组、IN4输入电控开关组分别连接于电压源组、电流源组和信号源组;
IN1输入电控开关组、IN2输入电控开关组、IN3输入电控开关组和IN4输入电控开关组控制信号分别连接所述测试系统PC;IN1、IN2、IN3、IN4引脚端均连接于金手指,用于将检测信号接入芯片;
所述输出检测通道包括OUT1、OUT2、OUT3和OUT4引脚端和OUT1输入电控开关组、OUT2输入电控开关组、OUT3输入电控开关组、OUT4输入电控开关组;
OUT1、OUT2、OUT3和OUT4引脚端分别通过OUT1输入电控开关组、OUT2输入电控开关组、OUT3输入电控开关组和OUT4输入电控开关组分别连接于电压源组、电流源组和信号源组;
OUT1输入电控开关组、OUT2输入电控开关组、OUT3输入电控开关组和OUT4输入电控开关组控制信号分别连接所述测试系统PC;OUT1、OUT2、OUT3和OUT4引脚端均连接金手指,用于将检测信号接入芯片。
5.根据权利要求1-4任意一项所述的数字电容隔离器测试分选系统及其分选装置,其特征在于:所述被测芯片的型号为IS374X。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海芯哲微电子科技股份有限公司,未经上海芯哲微电子科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011190778.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于多点标记的PCB元件坐标精准导入算法
- 下一篇:泵车臂架的气路装置





