[发明专利]冗余分析电路以及包括其的存储系统在审
| 申请号： | 202011173443.2 | 申请日： | 2020-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN113744793A | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 林在日;金头铉;金宝拉;李圣恩 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 许伟群;阮爱青 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请公开一种冗余分析电路以及包其的存储系统。存储系统包括：存储器件，其包括多个存储体，每个存储体包括用于替换有缺陷的行和列的行备用和列备用；以及存储器控制器，其适用于控制存储器件的操作，其中存储器控制器包括：内置自测试(BIST)电路，其适用于对存储体执行测试操作并且基于测试操作的结果来产生针对每个存储体的故障地址；以及内置冗余分析(BIRA)电路，其适用于通过分别对可修复的行备用和可修复的列备用的数量进行计数来确定第一备用计数和第二备用计数，以及根据第一备用计数和第二备用计数，从针对每个存储体的故障地址中选择目标修复地址。 | ||
| 搜索关键词： | 冗余 分析 电路 以及 包括 存储系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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